[发明专利]测定装置及方法、处理装置及方法、图案形成装置及方法、曝光装置及方法、以及元件制造方法有效

专利信息
申请号: 200780005077.6 申请日: 2007-02-21
公开(公告)号: CN101385120A 公开(公告)日: 2009-03-11
发明(设计)人: 柴崎祐一 申请(专利权)人: 株式会社尼康
主分类号: H01L21/027 分类号: H01L21/027;G03F7/20;G01B11/00;H01L21/68;G01D5/38
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 何腾云
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 测定 装置 方法 处理 图案 形成 曝光 以及 元件 制造
【权利要求书】:

1.一种测定装置,测定沿既定平面内移动的移动体的位置信息, 其特征在于,具备:

编码器系统,包含设于上述移动体的与上述平面平行的一面的复 数个光栅,以及分别对该复数个光栅照射光、并个别地接收来自各光 栅的反射光的复数个读头,以测量上述移动体在上述平面内的位置信 息;以及

面位置测量系统,包含复数个面位置传感器,该面位置传感器从 与上述平面正交的方向将光照射于上述移动体,并接收其反射光来测 量上述光的照射点中该移动体表面在与该平面正交的方向的位置信 息,以测量上述移动体在与上述平面正交的方向及相对该平面的倾斜 方向的位置信息。

2.如权利要求1记载的测定装置,其特征在于,上述复数个光栅, 包含:第1光栅,具有以与上述平面内的第1轴平行的方向为周期方 向的格子,并配置于上述移动体上;以及第2光栅,具有以与该第1 轴交叉的第2轴的平行方向为周期方向的格子,并配置于上述移动体 上;

上述复数个读头,包含:复数个第1读头,分别构成用于将检测 光照射于上述第1光栅、以测量上述移动体在与上述第1轴平行的方 向的位置信息的第1编码器,并沿与上述第1轴正交的方向相距既定 间隔配置,以及复数个第2读头,分别构成用于将检测光照射于上述 第2光栅、以测量上述移动体在上述第2轴方向的位置信息的第2编 码器,并沿与上述第2轴正交的方向相距既定间隔配置。

3.如权利要求2记载的测定装置,其特征在于,上述第1轴与上 述第2轴彼此正交。

4.如权利要求2或3记载的测定装置,其特征在于,上述复数个 面位置传感器,在至少一部分包含复数个特定面位置传感器;

上述复数个特定面位置传感器与上述复数个第1读头,配置在与 上述第1轴正交的方向的相同的直线上。

5.如权利要求4记载的测定装置,其特征在于,上述复数个特定 面位置传感器与上述复数个第1读头,交互配置在上述直线上。

6.如权利要求4记载的测定装置,其特征在于,上述复数个特定 面位置传感器相互对应且相隔既定间隔配置于,位于隔着连结上述复 数个第1读头的与上述第1轴的正交方向的直线一侧与另一侧的、与 上述直线平行的两条直线上。

7.如权利要求6记载的测定装置,其特征在于,上述复数个特定 面位置传感器,相对于连结上述复数个第1读头的与上述第1轴正交 方向的直线对称配置。

8.如权利要求6记载的测定装置,其特征在于,上述复数个特定 面位置传感器与上述复数个第1读头,在与上述第1轴正交的方向交 互配置。

9.如权利要求6记载的测定装置,其特征在于,隔着上述复数个 第1读头的第1轴的平行方向的一侧与另一侧,各配置有一个上述特 定面位置传感器。

10.如权利要求4记载的测定装置,其特征在于,其进一步具备面 位置检测装置,该面位置检测装置具有与上述复数个第1读头的排列 平行、沿与上述第1轴正交的方向的直线相距既定间隔设定的复数个 检测点,通过分别对设定于对象物体上的上述复数个检测点照射检测 光束并个别接收上述检测光束反射自上述对象物体的反射光,来检测 上述对象物体表面在上述复数个检测点的面位置信息;

在上述面位置检测装置的复数个检测点中、位于两端部附近的两 个检测点各自附近,以在与上述第1轴平行的方向的轴上和上述特定 面位置传感器的配置对应的方式,各至少配置有一个上述面位置传感 器。

11.如权利要求10记载的测定装置,其特征在于,其进一步具备 控制装置,使上述面位置传感器与上述面位置检测装置成为同时作动 的状态,并将通过上述同时作动而得的上述面位置检测装置在上述复 数个检测点的检测结果,换算成以上述同时作动所得的上述面位置传 感器的测量结果为基准的数据,上述面位置传感器,配置在上述复数 个检测点中位于两端部附近的两个检测点各自附近。

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