[发明专利]智能辐射探测器模块有效
申请号: | 200780003190.0 | 申请日: | 2007-01-04 |
公开(公告)号: | CN101374464A | 公开(公告)日: | 2009-02-25 |
发明(设计)人: | R·A·马特森;M·A·查波;R·P·卢塔 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 王英 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 智能 辐射 探测器 模块 | ||
1.一种计算机断层摄影装置,包括x射线源、多个x辐射敏感探测器 模块和重建器,所述重建器生成指示由所述探测器模块探测到的x辐射的 体积空间数据,所述探测器模块包括:
x辐射敏感探测器阵列(200),其响应于由其探测到的x辐射而生成电 信号;
存储器(202),其包含指示测得的所述探测器模块的性能特征的第一 参数和第二参数(204);
电路(208),与所述存储器通信,其根据所述第一参数校正所述电信 号,以生成经校正的探测器信号;以及
通信接口(210),其与所述存储器通信并且适于将所述第二参数传送 给所述探测器模块外部的设备,其中,所述外部的设备被配置为根据所述 第二参数校正所述经校正的探测器信号。
2.如权利要求1所述的装置,其中,所述探测器阵列(200)包括多 个探测器像素,并且其中,所述第一参数包括指示测得的所述阵列中的各 个像素的性能特征的参数。
3.如权利要求2所述的装置,其中,所述第一参数识别不工作像素。
4.如权利要求3所述的装置,其中,所述电路(208)使用来自所述 不工作像素的邻域中的像素的时间相应信号校正所述不工作像素。
5.如权利要求2所述的装置,其中,所述测得的性能特征是所述阵列 中像素之间的串扰。
6.如权利要求1所述的装置,其中,在将所述探测器模块安装在所述 计算机断层摄影装置中之前测量所述性能特征。
7.如权利要求6所述的装置,其中,所述探测器模块包括一部件,其 中,所述第一参数指示测得的所述部件的性能特征,并且其中,在将所述 部件安装在所述探测器模块中之前测量所述部件的所述性能特征。
8.如权利要求1所述的装置,其中,所述通信接口(210)适于从所 述探测器模块外部的源接收指示所述测得的性能特征的数据。
9.如权利要求1所述的装置,其中,所述存储器(202)是包含如下 指令的计算机可读存储介质(202),当执行所述指令时使得所述电路(208) 实现一种方法,所述方法包括使用所述第一参数来校正所述电信号。
10.如权利要求9所述的装置,其中,所述电路包括微处理器。
11.如权利要求1所述的装置,其中,所述探测器阵列包括多个光电 二极管。
12.如权利要求11所述的装置,其中,所述光电二极管是背照射的。
13.一种x射线探测器模块,在利用多个x射线探测器模块的成像装 置中使用,所述多个x射线探测器模块设置成形成探测器像素的平铺二维 阵列,所述x射线探测器模块包括:
多个x射线敏感探测器像素,其响应于探测到的x射线生成信号,并 且布置成安装在所述平铺二维阵列中;
存储器(202),其包含指示所述探测器像素的性能的第一参数和第二 参数;
信号校正电路(208),其与所述存储器和所述探测器像素通信,其中, 所述信号校正电路根据所述第一参数校正所述探测器像素信号,以生成经 校正的信号;
通信接口(210),其与所述存储器通信并且适于将所述第二参数传送 给所述x射线探测器模块外部的设备,其中,由所述x射线探测器模块外 部的设备根据所述第二参数施加进一步的校正;以及
电连接器,用于选择性地将所述x射线探测器模块电连接至所述成像 装置。
14.如权利要求13所述的x射线探测器模块,其中,所述第一参数和 第二参数指示第一性能特征,其在将所述x射线探测器模块安装在所述成 像装置中之前得以确定。
15.如权利要求14所述的x射线探测器模块,其中,所述第一参数和 第二参数指示第二性能特征,其在将所述x射线探测器模块安装在所述成 像装置中之后得以确定。
16.如权利要求15所述的x射线探测器模块,其中,所述第二性能特 征是探测器偏移量。
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