[发明专利]测试无零件之印刷电路板之方法及其装置

说明书

技术领域

本发明系有关一种测试无零件之印刷电路板之方法及其装置。 发明背景

用以测试无零件之印刷电路板之装置大体上可以分为两类，即指状测 试机及平行测试机。平行测试机系为利用一配接器同时与待测试电路板之 全部或至少主要接触点相接触之测试装置。指状测试机系为用以测试无零 件或有零件之印刷电路板之测试机，其使用两个或更多个测试指依序或连 续扫描各接触点。由于指状测试机所基于之原理，指状测试机之连续测试 较平行测试机之平行测试速度为慢。

指状测试机之测试指通常连结至一滑块上，此滑块可沿着一横杆移动， 而横杆又可在一导轨上导向并沿此导轨移动。因而滑块可定位于通常为矩 形之测试阵列上任何期望之位置。同样地，还有一些利用横杆固定之测试 装置，此固定横杆上之滑块设计为可以移动的。而具有一定长度之测试指 固设于这些滑块之上且测试指主要藉由其一终端连结于滑块。透过测试指 之旋转运动，使得与横杆成直角之特定区域能被扫描到。待测试之电路板 中所有电路板测试点能被接触到且因而能被上述两种类型之指状测试机所 测试。

指状测试机在欧洲专利0 468 153(A1)号案中有揭露，并且使用一 指状测试机测试电路板之方法在欧洲专利0 853 242(A1)号案中有揭露。

市场上指状测试机成功之关键因素在于待测试之电路板之测试速度。 为了提高此测试速度，开发出了专门之测试方法(举例而言，欧洲专利0 853 242(A1)号案及相应之美国专利5,977,776号案中有揭露)及专门之测试 探针(举例而言，美国专利5,804,982号案及美国专利6,344,751号案中 有揭露)。这样之测试探针用以与待测试之电路板中电路板测试点迅速相接 触，而于美国专利5,113,133号案中有揭露。

世界专利92/11541号案揭露了一种用以测试电路板之装置的成像系 统。此成像系统具有一类似于X-Y记录器之可移动之横杆，其上固设有一 带有垂直可移动之测试针之测试头。并且具有一透镜组及一感光耦合元件 (CCD)之摄像机紧挨此测试针固设。由摄像机所产生之影像显示于一显示 器上。在萤幕所显示之影像的支援下，操作员能以以下方式控制测试头， 即在一学习阶段，测试头追踪所有待测试之测试点且规划相应之坐标。在 测试过程中，测试装置能自动跟踪各接触点且使测试针与各测试点相接触。

因此，使用此种习知之装置，在摄像机之支援下，可获得测试指相对 于电路板之运动。然而，现在的电路板使用习知之测试装置实际是不可能 的，因为所述电路板具有太多的测试点，每个测试点必须与一测试指相接 触，这致使学习过程既不能在一符合经济考量下之适当时间内完成，又因 为接触过程之数目范围太大而不能没有错误地完成。结果，在现今指状测 试机之使用情况下，测试指在待测试电路板之计算机辅助设计(CAD)资料 之支援下进行控制。这些CAD资料具有不同之格式，其中应用最广的是所 谓之格氏资料(Gerber data)。

使用传统之指状测试机时，为了测试指可以正确定位，在实际待测试 电路板测试之前会执行两个校准过程，在第一校准过程中，包含有一滑块 及一接触指之各测试头对测试机进行校准，并且在第二校准过程中，待测 试电路板之CAD资料传送至插入测试机之实际电路板中。

在第一校准过程中，一校准面板插入测试机中，此校准面板为一较大 之电路板，其表面利用导体路径形成有一格栅。格栅之交叉点被测试指所 接触。在这些接触之支援下，可决定测试指之位置且使测试指获得校准。

通常，待测试之电路板均执行第二校准过程。在此过程中，一批次之 一电路板插入至测试机中，并且接下来透过使用在电路板上移动之测试指 或摄像机，使得待测试之电路板测试点图案之突出的电路板测试点被探测 且它们在测试机中之位置被测定。当电路板测试点被探测到时，将待测试 之电路板中电路板测试点之CAD资料引入且符合于电路板之坐标，即一批 次中之典型的电路板测试点图案之变形及错排会被记录且储存于一记忆体 中。

当两个校准过程均完成时，待测试电路板之电路测试点可被成功地靠 近，并且可利用测试指而接触。