[发明专利]自动分析装置以及探头升降方法

权利要求书

1.一种自动分析装置，其特征在于包括：

测定部，测定收容在反应容器中的被检测样本和试剂的反应液；

样本探头，用于从样本容器中吸引上述被检测样本，排出到上述 反应容器中；

探头升降机构，针对上述样本容器，使上述样本探头升降；和

控制部，为了使用于上述被检测样本的第n次吸引的上述样本探 头向上述被检测样本的液面的冲进速度慢于用于上述被检测样本的 第1次吸引的上述样本探头向上述被检测样本的液面的冲进速度，而 控制上述探头升降机构，其中，n≥2。

2.根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于：

上述控制部为了在上述第n次吸引中，以快于上述样本探头向上 述被检测样本的液面的冲进速度的速度下降到冲进的前阶段，而控制 上述探头升降机构。

3.根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于：

上述控制部为了在上述第1次吸引中，使上述样本探头以一定速 度下降，而控制上述探头升降机构。

4.根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于：

上述控制部，为了在上述第1次吸引中使上述样本探头以第1速 度下降，在上述第n次吸引中以快于上述样品探头向上述被检测样本 的液面的冲进速度、并且快于上述第1速度的第2速度下降到冲进的 前阶段，而控制上述探头升降机构。

5.根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于：

上述控制部为了在上述第1次吸引中使上述样本探头以第1速度 下降，在上述第n次吸引中使上述样本探头以慢于上述第1速度的第 2速度下降，而控制上述探头升降机构。

6.根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于：

用于上述第n次吸引的上述样本探头的下降时间长度长于用于上 述第1次吸引的上述样本探头的下降时间长度。

7.一种自动分析装置，其特征在于包括：

测定部，测定收容在反应容器中的被检测样本和试剂的反应液；

样本探头，用于从样本容器中吸引上述被检测样本，排出到上述 反应容器中；

探头升降机构，针对上述样本容器，使上述样本探头升降；和

控制部，为了使用于上述被检测样本的第n次吸引的上述样本探 头的下降速度慢于用于上述被检测样本的第1次吸引的上述样本探头 的下降速度，而控制上述探头升降机构，其中，n≥2。

8.一种为了从样本容器中吸引被检测样本而使样本探头升降 的自动分析装置的探头升降方法，其特征在于：

为了进行上述被检测样本的第1次吸引，使上述样本探头以第1 速度向上述被检测样本的液面冲进，

为了进行上述被检测样本的第n次的吸引，使上述样本探头以慢 于上述第1速度的第2速度向上述被检测样本的液面冲进，其中，n≥2。