[实用新型]一种信号测试治具

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种信号测试技术，更详而言之，是用以供信号测试装置采集测试信号的信号测试治具。

背景技术

随着科技的不断研发与精进，电子产品的设计，皆朝向高性能、高精度、好质量的共同目标发展。进而，这些电子产品的相关测试变得尤为重要，在测试治具的设计过程中，任何一项改进，只要有益于方便完成测试、提高测试效率及测试质量等实质性的功效的增进，均为具有产业利用价值的发明创造，亦符合专利法鼓励、保护与利用发明创造的精神。

在各种电子装置中，例如内存，需要对内部电路进行相关测试，以此来检验该电子装置的性能及质量。通常，在对该电子装置进行内部电路测试时，用以进行信号测试的信号测试装置不易直接电性连接于该电子装置上。

在测试中，现有的信号测试技术通常会利用导线将待测的电子装置中需要测量的电路信号引出，再与该信号测试装置进行电性连接，而该导线则需要人工焊接于该电子装置对应位置。

然而，随着电子装置的高密度发展，该电子装置上需要进行测量的位置周围电路密集并复杂，而且可提供焊接的空间很小，不仅对焊接技术要求很高，且不便于移动，极易产生焊接错误、或发生短路断路等状况，使得测试结果不准确，甚至会将该电子装置损坏。另外，基于人工焊接的方式，在测试过程中容易由于焊接不稳，而使导线脱落。

又，由于在测试过程中可能需要测试的信号较多，需要反复焊接及拆除焊接，使得测试作业的效率极低，且由于经常进行焊接与拆除焊接，对于该电子装置产生诸多影响。

因此，如何提供一种信号测试治具，能够便利的于待测电子装置中采集需要测试的测试信号，以供测试装置进行方便稳定的测试，实为目前亟欲解决的问题。

发明内容

鉴于上述现有技术的缺点，本实用新型的一目的在于提供一种信号测试治具，能够便利地于待测电子装置中采集需要测试的测试信号，以供测试装置进行方便稳定的测试。

本实用新型的另一目的在于提供一种便于移动的信号测试治具。

本实用新型的再一目的在于提供一种可防短路断路的信号测试治具。

为达到上述及其它目的，本实用新型提供一种信号测试治具，用以自待测电子装置表面的测试点引出测试信号，以供信号测试装置进行相关测试，该信号测试治具包括：夹具，具有一对相互交叉设置的夹持臂、设于该对夹持臂相交处的贯孔、及贯穿该贯孔而轴接该对夹持臂的转动轴，且于该对夹持臂分别包括设于一侧的夹持部、设于该夹持部的固定孔、以及设于另一侧的操作部；以及探针，一端具有供接触该测试点的针脚，另一端则固定并部分外露于该固定孔。

前述信号测试治具中，该对夹持臂为绝缘刚性臂体；该对夹持臂分别具有弯折部，而该贯孔穿设于该弯折部。各该夹持臂为彼此平行。该夹持部内侧设有止滑的软性保护层，以避免损坏该待测电子装置；此时，该探针由该固定孔到该针脚端部的距离大于该保护层的厚度。该固定孔可为螺丝孔，该探针则具有对应的螺纹。该探针复设有供该信号测试装置电性连接的电性连接部，且该电性连接部是设于该探针中另一端而远离该针脚；该探针具有针脚的一端比未具有该针脚的另一端较细。

较佳地，是设置多个固定孔，且该探针为活动性探针，如此可视需要来安装不同数量的探针，且可更换该探针；但当然亦可仅设置一个固定孔。换言之，应用本实用新型可增加探针数量，且若有两个该测试点距离太近，可更换为两个探针(或具更细针脚的探针)、错开摆放多个治具、及/或改变探针设置位置，具有使用便利性。

本实用新型的信号测试治具，是通过操作部进行张合操作使夹持部以转动轴为轴心发生转动，以对待测电子装置进行夹紧及松弛；而该夹持部具有固定孔，该固定孔可供固定探针，以探针的针脚接触该待测电子装置表面的测试点，由此将测试信号引出至针脚外露于该固定孔的电性连接部，以供信号测试装置进行电性连接。

较于现有技术，本实用新型不需要焊接，避免需要焊接所衍生的焊接不良、短路等诸多弊端，而且本实用新型可解决现有技术反复焊接而降低测试工作效率的缺陷。同时，本实用新型设计夹形的信号测试治具，便于移动，且稳定性相对较高。因此，本实用新型可克服现有技术焊接错误、发生短路断路、及焊接不稳等状况所导致的测试结果不准确、电子装置损坏、及导线脱落问题，而能够便利的于待测电子装置中采集需要测试的测试信号，以供测试装置进行方便稳定的测试。

附图说明

图1A是显示本实用新型的信号测试治具一实施例中应用于夹持待测电子装置的侧视图；以及

图1B是显示图1A的俯视图。

元件标号的简单说明：

10   待测电子装置

100  测试点