[实用新型]一种原子荧光光谱仪无效
申请号: | 200720190408.5 | 申请日: | 2007-11-28 |
公开(公告)号: | CN201107273Y | 公开(公告)日: | 2008-08-27 |
发明(设计)人: | 徐进勇;葛良全;温晓东;吴鹏;蒋小明 | 申请(专利权)人: | 成都理工大学 |
主分类号: | G01N21/71 | 分类号: | G01N21/71 |
代理公司: | 北京捷诚信通专利事务所 | 代理人: | 魏殿绅 |
地址: | 610059四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 原子 荧光 光谱仪 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种光学测量装置,尤其涉及一种原子荧光光谱仪。
背景技术
目前广泛应用的化学蒸气发生原子荧光光谱仪(CVG-AFS,ChemicalVapor Generation Atomic Fluorescence Spectrometer),与电感耦合等离子体原子发射光谱(ICP-OES,Iternet Content Provider optical mission specrometry)、电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)相比,具有结构简单、价格低廉、灵敏度高、检出限低等优点。已成功地应用于各种样品的分析中,氢化物发生原子荧光光谱仪(HG-AFS)是当今使用最多的一种化学蒸气发生原子荧光光谱技术,也是我国拥有自主知识产权的顶尖原子光谱技术,它对能产生氢化物的元素表现出很高的分析灵敏度。如图1所示,为现有的原子荧光光谱元素测试和原子化装置图,现有的原子荧光测试元素和原子化系统是两套硬件,原子荧光将要测的元素通过进样装置1引入后,将分析的测试元素2送入原子化装置3进行原子化,并且在原子化的时候产生分析信号,其中进样装置主要通过一个泵,将溶液吸入后,通过管路送入右边的原子化装置——就是一个石英做的管状炉,并在炉子的出口处被燃烧着氢气加热,达到原子化的目的。化学蒸气发生原子荧光光谱也存在着明显的缺点,限制了它在分析领域更广泛的应用:
1.只有能产生化学蒸气的金属、类金属元素(Hg、Se、As、Cd、Tl、Sb、Bi、Te、Sn、Pb、Zn、Ge等)才能适用上述技术;
2.氢化物化学蒸气发生原子荧光光谱,在分析复杂基体样品时,受过渡金属干扰非常严重,也限制了它的应用领域。
钨丝电热原子荧光光谱仪能较有效地克服氢化物发生原子荧光的这两方面的不足,扩展原子荧光的应用领域。
发明内容
为解决上述中存在的问题与缺陷,本实用新型提供了一种采用钨丝作为电热原子荧光光谱仪分析元素的种类,该原子荧光光谱仪结构简单、体积小、且便于携带。
本实用新型是通过以下技术方案实现的:
原子荧光光谱仪包括激发光源部件、电热蒸发进样及原子化部件、荧光信号检测部件及嵌入式控制处理电路系统,所述电热蒸发进样及原子化部件包括:钨丝、程序升温电源、载气管道及玻璃外罩,其中,在一圆锥形底座上设置一螺旋形钨丝,且在螺旋形钨丝的外部罩有一个玻璃外罩,所述玻璃外罩的左右两端各有一个圆柱形的通道,并在两端通道的下侧各开有一个小支管,所述玻璃罩的正上方与正后方还各开有一个小孔,玻璃罩的下部用一四棱锥形面构成。
所述圆锥形钨丝底座与玻璃罩下部的四棱锥面上端相连,且采用钨丝作为测试元素的器件引入原子化系统,述玻璃罩正后方开设的一小孔上封有石英透镜。所述荧光信号检测部件包括一电倍增管检测器,且该电倍增管的信号采集与所述钨丝电热程序升温电源电路系统采用嵌入式系统。
本实用新型通过采用钨丝作为测试元素的器件引入原子化系统,克服了氢化物发生原子荧光光谱一定要产生分析元素氢化物这一分析条件的限制,钨丝程序升温将测试分析元素原子化,在激发光源的作用下产生原子荧光。钨丝电热原子荧光光谱仪分析样品种类与分析元素种类多,且附加设备少、体积小、便于携带。
附图说明
图1是现有原子荧光光谱仪测试元素和原子化装置图;
图2是本实用新型原子荧光光谱仪测试元素和原子化装置图。
具体实施方式
本实用新型涉及一种原子荧光光谱仪,下面结合附图来详细说明本实用新型:
如图2所示,包括:激发光源部件、电热蒸发进样及原子化部件、荧光信号检测部件及嵌入式控制处理电路系统,其中,仪器的核心部件是电热蒸发进样及原子化部件,该部件由四大部分构成:钨丝7、程序生温电源12、载气管道8及玻璃外罩13,其中玻璃罩13的左右两端各有一个圆柱形通道,并分别用石英片9和吸收紫外的材料14密封,且两端通道的下侧各开有一个小支管,以引入保护气;玻璃罩13的正上方开一小孔11,以供排除气体和进检测元素所用;玻璃罩13的正后方开一孔,并用石英透镜15封上,供收集荧光用;玻璃罩13的下部分用一个四棱锥形面构成,且四棱锥面上端与圆锥性钨丝底座10相联成一体。
分析元素经过样品前处理技术(如电沉积、离子交换、萃取等手段)与复杂基体分离后,引入钨丝表面直接把样品“点”在钨丝上,然后对钨丝加热将测试元素进行原子化,在激发光源5的激发下产生原子荧光,并通过光电倍增管6检测荧光信号,然后由嵌入式电路系统处理分析信号,得到相应被测元素的含量。
以上所述,仅为本实用新型较佳的具体实施方式,但本实用新型的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内,可轻易想到的变化或替换,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此,本实用新型的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。
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