[实用新型]发光二极管的温度特性测量系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测量系统，特别涉及一种用以测量发光二极管的温度特性的测量系统。

背景技术

发光二极管(Light Emitting Diode；LED)具有工作电压低，耗电量小，发光效率高，反应时间短，光色纯，结构牢固，抗冲击，耐振动，性能稳定可靠，重量轻，体积小及成本低等特点。随着技术的进步，发光二极管可展现的亮度等级越来越高，其应用领域也越来越广泛，例如：大面积图文显示全彩屏，状态指示、标志照明、信号显示、液晶显示器的背光源或车内照明。

为了得知环境温度对于发光二极管的光电特性的影响，需要对发光二极管进行温度特性的测量。当进行发光二极管的温度特性测量时，需利用例如：环境控制箱、烤箱或冷热二极管等温控设备，来控制发光二极管的环境温度，并通过光学测量系统来测量环境温度对于发光二极管的光电特性的影响。当进行发光二极管的低温测试时，则需另搭配压缩机或其它冷却装置，来降低发光二极管的环境温度。

然而，在一般发光二极管的温度特性测量过程中，发光二极管组件和光学测量系统的侦测器暴露于一般大气中，当环境温度产生变化时，例如当环境温度由室温下降至零度以下时，则容易发生水气凝结或结霜的情形，因而造成光学测量上的误差，影响测量的准确性。

实用新型内容

本实用新型的目的在于，提供一种发光二极管的温度特性测量系统，用以测量发光二极管的温度特性，并可避免在测量时发生水气凝结或结霜的情形，因而确保测量准确度。

本实用新型采用如下技术方案：

一种发光二极管的温度特性测量系统，用以测量发光二极管的温度特性，其中测量系统至少包含环境控制装置、流体介质、温度控制装置及光学测量装置。环境控制装置具有容置空间，其中发光二极管设置于该容置空间中。所述流体介质填充于环境控制装置的容置空间中，并包覆住发光二极管。其中，所述流体介质为绝缘材料，且流体介质在容置空间内的温度操作范围介于-55度(℃)至140度(℃)之间。温度控制装置用以控制容置空间内的温度。光学测量装置用以测量发光二极管的光学特性。

本实用新型可用以测量环境温度对于发光二极管的光学特性的影响，并可确保在环境温度变化时的测量准确度。

以下结合附图及实施例进一步说明本实用新型。

附图说明

图1、图2为本实用新型第一实施例的结构框图。

图3为本实用新型第一实施例的结构框图。

标号说明

100：测量系统        133：冷却装置

110：环境控制装置    140：光学测量装置

111：容置空间        141：侦测器

112：均温装置        142：隔绝透镜

120、120a：流体介质  150：控制单元

130：温度控制装置    160：电源电表

131：温度控制器      200：发光二极管

132：加热装置

具体实施方式

第一实施例

如图1、图2所示，一种发光二极管的温度特性测量系统100，用以测量发光二极管200的温度特性，以此了解环境温度对于发光二极管200的光学特性的影响。其至少包含有环境控制装置110、流体介质120、温度控制装置130、光学测量装置140、控制单元150及电源电表(Source Meter)160。发光二极管200设置于环境控制装置110内，以进行测量，流体介质120填充于环境控制装置110内，并包覆住发光二极管200，温度控制装置130用以控制环境控制装置110内的温度，光学测量装置140用以测量发光二极管200的光学特性，控制单元150导电连接于温度控制装置130、光学测量装置140及电源电表160，以进行控制动作，电源电表160用于侦测发光二极管200的电学性能。

如图2所示，本实施例的环境控制装置110具有容置空间111，用以容设发光二极管200和流体介质120，以此使发光二极管200设置于流体介质120中，并透过流体介质120来测量发光二极管200的温度特性，亦即测量发光二极管200在不同环境温度下的光学特性表现。此外，环境控制装置110可设有均温装置112，例如为：磁力搅拌棒或通过马达来带动叶片，其设置于容置空间111中，用于对容置空间111内的流体介质120进行搅拌动作，而达到快速均匀温度效果。