[实用新型]一种光电器件参数监测设备无效

专利信息
申请号: 200720173708.2 申请日: 2007-10-19
公开(公告)号: CN201107374Y 公开(公告)日: 2008-08-27
发明(设计)人: 尧舜 申请(专利权)人: 北京工业大学
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R31/26
代理公司: 北京思海天达知识产权代理有限公司 代理人: 张慧
地址: 100022*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 光电 器件 参数 监测 设备
【说明书】:

技术领域

实用新型属于光电子技术领域,具体涉及一种光电器件性能参数监测设备。

背景技术

目前,光电器件性能参数实时监控设备普遍采用参数采集设备与器件一一对应采集数据的结构。这种实时监控结构要求参数采集设备数量与所测光电器件数量上相等,在光电器件测试、筛选的整个过程中光电器件与参数采集设备同时工作。通常,光电器件生产初期要对每个器件进行的摸底测试、筛选、老化等过程时间较长,这样,在批量生产光电器件的情况下,要对大量的光电器件输出参数进行测试就必须长时间的占用大量的参数采集设备,而参数采集设备的价格非常昂贵,因此这种传统的性能参数实时监控设备具有成本高、效率低的缺点。

实用新型内容

为了解决背景技术中光电器件性能参数实时监控设备要求大量的参数采集设备长时间同时工作而造成的成本高、效率低的问题。为此,本实用新型提供一种光电器件参数监测设备结构,利用一个在导轨上按所设定周期移动的参数采集设备对多个光电器件进行数据采集,降低了大量光电器件测试、筛选、老化等过程中对参数采集设备数量的要求,通过提高数据采集设备的利用效率进而达到降低过程运行成本和设备成本的目的。

为了实现以上目的,本实用新型采取了如下技术方案。主要包括有运动采集系统和控制记录系统2,运动采集系统包括有数据采集设备7,控制记录系统2包括有数据记录系统10;其特征在于:运动采集系统还包括有壳体5、器件架4、导轨3、运动设备6,控制记录系统2还包括有运动控制系统11;其中,器件架4、导轨3、数据采集设备7和运动设备6均设置于壳体5内,器件架4和导轨3平行布置,多个待测光电器件并列放置在器件架4上;数据采集设备7通过运动设备6可以沿着导轨3运动,运动设备6在控制记录系统2中的运动控制系统11的控制下可以运动到每个被测光电器件12正前方,数据采集设备7采集被测光电器件12的输出信号;数据采集设备7通过数据传输线8与控制记录系统2中的数据记录系统10相连。

所述的数据采集设备7为光功率计或能量计或光谱仪或电荷耦合器件(ccd)或光电二极管。

所述的运动设备6为步进电机或伺服电机。

本实用新型工作时,待测光电器件12位于器件架4上,运动控制系统11根据实际测试需要通过控制运动设备6驱动数据采集设备7在导轨5上运动以采集器件架4上每个器件的输出参数,通过数据传输线8传输到数据记录系统10中,从而完成利用一个数据采集设备7对器件架4上多个光电器件12工作参数的监测。

本实用新型与传统结构及制造方法相比具其优点在于利用一个数据采集设备就能够完成对多个光电器件的输出参数进行采集和自动记录,适用于大批量光电器件的测试、筛选、老化过程,提高了效率,节约了成本。

附图说明

图1是本实用新型运动采集系统结构示意图(俯视图)

图2是本实用新型运动采集系统结构示意图(正视图)

图3是本实用新型控制记录系统示意图

图中:2、控制记录系统,3、导轨,4、器件架,5、壳体,6、运动设备,7、数据采集设备,8、数据传输线,9、控制信号线,10、数据记录系统,11,运动控制系统。

具体实施方式

下面结合附图1~3详细描述本实用新型,但本实用新型不限于这些实施例:

实施例1:器件光功率测试设备,本实用新型的结构如图1、图2所示,包括:运动采集系统1和控制记录系统2。其中,运动采集系统1包括有壳体5、一维直线器件架4、一维直线导轨3、伺服电机或者步进电机6、光功率计探头7、数据传输线8、控制信号线9。控制记录系统2包括有数据记录系统10、运动控制系统11。器件架4、导轨3、数据采集设备7、运动设备6设置于壳体5内部。导轨3与器件架4平行布置,数据采集设备7通过运动设备6能够在导轨上运动,运动设备6通过控制信号线9与运动控制系统11相连,在运动控制系统的控制下,当数据采集设备7运动到每个被测器件正前方时能够采集到器件架4上待测器件12的输出信号,数据采集设备7通过数据传输线8与数据记录系统10相连,将采集到的待测光电器件12的输出信号传输给数据记录系统10。

本实用新型工作时,将需测试光电器件12置于器件架4上,运动控制系统11根据实际测试需要通过伺服电机6驱动光功率计探头7在导轨5上运动以采集器件架4上所需器件的输出功率,通过数据线传输到数据记录系统10中,从而完成利用一个光功率计探头7对器件架4上多个器件输出功率的监测。

实施例2:本实施例可用于器件发射光谱的测试,只需将实施例1中的光功率计探头7换为光谱仪即可。

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