[实用新型]一种LED扫描电路

说明书

技术领域

本实用新型涉及LED(Light Emitting Diode，发光二极管)显示技术领域，尤其涉及一种LED扫描电路。

背景技术

在通用LED(Light Emitting Diode，发光二极管)扫描电路中常进行占空比为1/2、1/4、1/8的动态行扫描。所述扫描电路包括多条行扫描线，多个行驱动管、多个行驱动管的负载LED发光二极管。所述行驱动管为MOS(Metal-Oxide-Semiconductor，金属氧化物半导体)场效应管。所述负载LED发光二极管是电容性的，且数目可达96个，由此所述行驱动管负载较重，故在LED扫描电路进行行关断时，常常会呈现较长的电容放电效应，造成相邻行出现阴影。

图1是现有LED扫描电路进行占空比为1/4的行扫描所产生行阴影的波形示意图。L0、L1、L2和L3分别表示LED扫描电路的第一行扫描线、第二行扫描线、第三行扫描线和第四行扫描线。第三行扫描线L2信号波形的M点至N点之间的时间为第三行关断时累积的电荷泄放波形中第三行尚未完全关断的一段Δt1，它恰好位于第四行扫描线L3信号波形的导通期内，即第三行扫描线L2、第四行扫描线L3的开通时间产生了重叠交叉，由此导致LED行扫描产生行阴影，相邻行间发光二极管发生阴亮现象。

为了解决上述问题，现有技术提供的LED扫描电路如图2所示，该LED扫描电路包括4条行扫描线L0、L1、L2和L3，该4条行扫描线L0、L1、L2和L3分别与红色发光二极管D0、D1、D2和D3(各行扫描线上的其余发光二极管图中未示)的阳极相连，并且所述4条行扫描线L0、L1、L2和L3分别与下拉电阻R0、R1、R2和R3相连。所述红色发光二极管D0、D1、D2和D3的阴极均通过B点的电阻R4与恒流移位芯片101的一输出点D共列相连，C3是第四行扫描线L3的负载等效电容，当红色发光二极管D3反向性能变差并在第四行扫描线L3处于行关断状态时，所述下拉电阻R3将该行负载等效电容C3残余电荷进行快速有效泄放，所产生的泄放电流即为ic3电流。由此，现有技术在LED扫描电路中每条行扫描线上加一下拉电阻可以实现在行关断时加速行线上累积的电荷泄放，从而避免相邻行间发光二极管发生阴亮现象。

该现有技术同时存在如下缺陷：当某一行某一列的红色发光二极管反向性能变差并且由此所产生的漏电流增大时，位于其它行该列的红色发光二极管透过该反向性能变差的红色发光二极管和该行线上的下拉电阻产生漏电流而导通，从而在不该亮时产生暗亮。

参见图2，假设恒流移位芯片1在各行扫描时均全关断该一列输出点D，当第四行扫描线L3关断、第三行扫描线L2开通时，红色发光二极管D2本不该亮，但由于红色发光二极管D3反向性能变差，通过红色发光二极管D3、第四行扫描线L3和下拉电阻R3通路，可形成漏电流io3，造成红色发光二极管D2暗亮。具体分析如下：第三行扫描线L2电压开通时A点电压Va为+5V，红色发光二极管D2的导通电压是2V，即D2导通时B点电压Vb为+3V，当反向性能变差的红色发光二极管D3的阳极C点电压Vc因接有下拉R3小于Vb时，通过第四行扫描线L3和下拉电阻R3，就产生了漏电流io 3。同理，红色发光二极管D0、D1亦在扫描到本行时也会因产生漏电流而在不该亮时发生暗亮。

为此，现有技术通过更换该反向性能变差的红色发光二极管D3或三合一LED灯来解决所述问题，但是反向性能变差的红色发光二极管并不影响正向使用，且LED模块在长期使用中，难免RGB发光二极管或三合一LED灯，尤其是红色发光二极管反向性能变差的数量会不断增加，如果按照现有技术的方法将全部反向性能变差的红色发光二极管予以更换，不仅工作量很大，而且成本高、不经济。

综上可知，现有的LED扫描电路在实际使用上显然存在不便与缺陷，所以有必要加以改进。

实用新型内容

针对上述的缺陷，本实用新型目的在于提供一种LED扫描电路，该LED扫描电路可以消除行残余电荷造成的相邻行扫描线间发光二极管发生阴亮的现象，同时还能消除一行扫描线上反向性能变差、漏电流增大的发光二极管造成其余行共列二极管发生暗亮的现象，并且可以降低LED扫描电路的维护成本。

为了实现上述目的，本实用新型提供一种LED扫描电路，包括若干条行扫描线和与每条行扫描线相连的发光二极管，所述LED扫描电路进一步包括：

若干个行电荷泻放和漏电流隔离电路，用于对所述行扫描线进行残余行电荷泻放和对所述发光二极管进行漏电流隔离。