[实用新型]24线陶瓷双列封装集成电路老化试验插座

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种微电子元器件老化测试装置，尤其能对24线陶瓷双列封装集成电路元器件可靠性进行高温老化试验和测试的插座。

背景技术

目前，在我国可靠性技术领域，国内老化试验插座系列产品本体材料采用的是非耐高温普通工程塑料，在对被测器件进行测试时，老化工作温度仅为-25℃～+85℃，且老化工作时间短暂，插座接触件表面镀银，结构简单，存在着与被测器件之间接触电阻大、耐环境弱、一致性不高和机械寿命不长的重大缺陷。在我国微电子元器件可靠性领域，金属封装固体继电器元器件高端技术产品，因无高温老化可靠性试验的专用装置，不能满足对器件性能指标的测试要求，容易引发工程质量事故。

发明内容

为克服现有老化试验插座在接触电阻、耐高温和一致性以及使用寿命方面的不足，本实用新型提供一种高温老化测试试验插座。该插座不仅能将老化工作温度范围从-25℃～+85℃扩大到-55℃～+150℃，一次老化连续工作时间长达250h(125±2℃)以上，插拔寿命3000次以上，而且在对被测试器件进行高温老化试验和性能测试过程中，具有接触电阻小、一致性好、可靠性高、方便使用、表面耐磨和零插拔力的优点，大大提高了插座的可靠性和使用寿命。

本实用新型解决技术问题所采用的技术方案是：按照24线陶瓷双列型的结构设计和尺寸要求，将插座设计成三大组成部分，即插座体、接触件和锁紧装置。插座体由座、盖组成，选用进口的耐高温型特种工程塑料，经高温注塑成型工艺技术制造成插座本体，用于被试器件的定位安装；接触件以铍青铜材料经线切割机切割下料及打弯成型，经300℃高温淬火处理及电镀硬金层技术表面镀金，采用中心对称、纵向排列、自动锁紧和零插拔力结构安装于插座体的座中，两排接触件的跨距为7.62mm；锁紧装置由滑块和手柄组成，当手柄受力向下翻转90°时，由于手柄的径向尺寸差，使滑块产生位移，促使接触件上端闭紧，接触件自动锁紧被试器件引出线，通电后进行高温老化试验和性能测试。这种以中心对称、纵向排列、自锁式和零插拔力为设计结构的试验插座，彻底解决了在高温老化试验和性能测试过程中的接触电阻大、耐环境弱、一致性差和机械寿命不长的技术难点；同时该实用新型可满足跨距为7.62mm的24线内被试器件不同引线的要求。

本实用新型的有益效果是：可以满足军民通用节距为2.54mm、跨距为7.62mm的24线和其它同类陶瓷双列封装集成电路元器件高温老化试验和性能测试，填补了国内空白，替代进口，为国家节约了外汇，为用户节约了成本，可以获得较大的经济效益和社会效益。

附图说明

下面结合附图和实例本实用新型作进一步说明。

图1是本实用新型的外形结构纵剖面构造图。

图2是本实用新型外型结构俯视图。

图1：1座  2压簧  3滑块  4簧片(接触件)  5盖  6挡板  7手柄  8手柄球

图2：9不锈钢十字开槽沉头螺钉

具体实施方式

在图1中，先将接触件即簧片4按中心对称、纵向排列、与被试器件引出线相对应结构插入座1中，再将滑块3放入座1上，并将孔对齐；装上挡板6，再装上压簧2，手柄7嵌于座1和滑块3之间，将盖5按孔摆在座1上，用图2中的不锈钢十字开槽沉头螺钉9将图上中盖5和座1固定。

该方案中，插座体用于被试器件的安装定位，接触件由镀金簧片、2.54mm节距、7.62mm跨距按中心对称、纵向排列、自动锁紧和零插拔力结构安装于插座体的座中，与被试器件引出线相对应，锁紧装置由滑块、手柄组成，安装于插座体一侧。当手柄处于初始位置时，接触件张开，放入被试器件后，手柄受力向下翻转90°时，接触件自动锁紧被试器件。