[实用新型]一种空管测试探针

说明书

(一)技术领域

本实用新型涉及一种测试探针。

(二)背景技术

一般情况下，印刷电路板及芯片等完成线路布置后，为确定每条线路皆可正常导通，必须用测试探针予以测试。一般的测试探针是一根针体，针体的前端为探测头，在测试时探测头与测试点接触，针体的后方连接导线，针体通过导线与测试机相连。其存在的缺点是：一根测试探针具有固定的探测头，然而测试点的类型较多，针对不同的测试点，有时需要适用不同形状的探测头，这时只更换不同的测试探针。

(三)发明内容

为了克服现有测试探针无法更换探测头的不足，本实用新型提供一种可更换探测头的空管测试探针。

本实用新型解决其技术问题的技术方案是：一种空管测试探针，包括针体，所述针体的前端设有轴向的插道，所述的插道内插设有探测头。

进一步，所述的插道贯穿所述的针体，所述的针体形成一中空管。

进一步，所述针体的尾部设有凸台。

所述探测头的顶部呈齿口状。

所述探测头的顶部根据不同测试点的具体情况，可设计成不同的形状，如：所述探测头的顶部呈齿口状；或者：所述探测头的顶部呈圆弧状。

本实用新型在使用时，将探测头插于针体的前端，测试时探测头与测试点接触，针体的后方连接导线，针体通过导线与测试机相连，根据不同测试点的类型可更换不同的探测头。

本实用新型的有益效果在于：1.在同一根针体上可更换不同类型的探测头，适用范围广。2.只需一根针体便可适配多个探测头，节约了成本。

(四)附图说明

图1是针体的局部剖视图。

图2是探测头的结构示意图。

图3是另一探测头的结构示意图。

(五)具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型作进一步详细说明。

参照图1、图2，一种空管测试探针，包括针体1，所述针体1的前端设有轴向的插道2，所述的插道2内插设有探测头3，该探测头3的顶部呈齿口状。

所述的插道2可贯穿所述的针体1，所述的针体1形成一中空管，这样可更加节省成本。

所述针体1的尾部设有凸台4，便于将测试探针安装在针板上。

本实用新型在使用时，将探测头3插于针体1的前端，测试时探测头3与测试点接触，针体1的后方连接导线，针体1通过导线与测试机相连，根据不同测试点的类型可更换不同的探测头，如图3所示的顶部呈圆弧状的探测头，或顶部呈圆锥状的探测头等。