[实用新型]半导体发光器件寿命加速试验装置

权利要求书

1.半导体发光器件寿命加速试验装置，其特征在于：它包括温控箱、设于温控箱内的试验样品支承座以及光传输器，所述光传输器的一端为采集端，采集端与支承座配合设置，所述的光传输器的另一端为测量端，该测量端与测光仪相连。

2.根据权利要求1所述的半导体发光器件寿命加速试验装置，其特征在于：所述的光传输器有复数个，每个光传输器采集端所接受光线的前侧光路上设有一聚光筒。

3.根据权利要求2所述的半导体发光器件寿命加速试验装置，其特征在于：所述的聚光筒内设有聚光透镜。

4.根据权利要求1、2或3所述的半导体发光器件寿命加速试验装置，其特征在于：所述的光传输器测量端和测光仪之间设有混光球，混光球上设有入光孔和出光孔，入光孔和光传输器测量端对应设置，出光孔处则连接测光仪。

5.根据权利要求2或3所述的半导体发光器件寿命加速试验装置，其特征在于：所述的每个光传输器分别连接一测光仪。

6.根据权利要求2或3所述的半导体发光器件寿命加速试验装置，其特征在于：所述的复数个光传输器通过多路光扫描机构与一测光仪相配合。

7.根据权利要求6所述的半导体发光器件寿命加速试验装置，其特征在于：所述的多路光扫描机构为平移扫描机构。

8.根据权利要求6所述的半导体发光器件寿命加速试验装置，其特征在于：所述的多路光扫描机构为旋转扫描机构。

9.根据权利要求1、2或3所述的半导体发光器件寿命加速试验装置，其特征在于：所述的温控箱内设有温度传感器，温度传感器与测温仪相连。

10.根据权利要求3所述的半导体发光器件寿命加速试验装置，其特征在于：试验样品支承座包括支架和设于支架上的支承板，所述的传输器采集端、聚光筒和聚光透镜都固定于支架上。