[实用新型]一种TFT LCD成盒工段的成盒检测装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及TFT LCD(薄膜晶体管液晶显示器)生产过程中的检测设备，尤其涉及一种TFT LCD成盒工段的成盒检测装置。

背景技术

在平板显示技术中，TFT LCD具有功耗低、制造成本相对较低和无辐射的特点，因此在平板显示器市场占据了主导地位。在生产过程中，液晶面板在成盒(Cell)工段结束后需要进行测试，即成盒检测工序。

图1所示为现有技术中常用的成盒检测设备，如图1所示，该成盒检测设备包括：检测区1；待检区2；气体控制区3；动力控制区4；主控电脑5和操作面板6组成。

作业员在检测区1对成盒进行人工检测时，机械手将下一张需要检测的成盒放置于待检区2。气体控制区3控制夹具以及真空吸附将当前检测及待检成盒的位置固定。主控电脑5输出信号，提供测试画面。操作员测试完毕，在操作面板6上输入当前成盒的判定结果。此后，搬送装置将位于检测区和待检区的成盒交换，机械手取回检测完毕的成盒并送上下一张待检的成盒。

在该工序中，主要由作业员手动完成检测过程，需要大量的人力投入，且容易出现误判，判罚尺度不统一等问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是针对现有技术的缺陷，提供一种TFT LCD成盒工段的成盒检测装置，能够自动对液晶面板在成盒工段结束后的各种成盒不良进行检测，从而节约人力和提高生产效率。

为了实现上述目的，本实用新型提供一种TFT LCD成盒工段的成盒检测装置，包括：检测装置本体、检测区、待检区、气体控制区、动力控制区和主控电脑，此外还包括感光测试器及感光测试器控制设备，感光测试器设置在所述检测区正前方位置处，感光测试器及感光测试器控制设备之间通过连接线进行连接。

上述方案中，所述感光测试器为一种2维辉度计，由测量镜头、光纤、传感器和控制电脑组成。所述测量镜头为平面2D测量镜头。所述测量镜头固定于距产品30～100mm处的检测装置本体的外框上。所述测量镜头四周包裹有防光罩。

本实用新型在现有设备的基础上增加光学检测系统。由于缺陷位置的光线与正常位置不同，由感光材料进行跟踪、定位，并最终进行不良和等级的判定，极大提高了自动化水平，节约了人力和提高了生产效率。

下面结合附图和具体实施例对本实用新型进行更为详细地说明

附图说明

图1是现有技术的一种成盒检测设备；

图2是本实用新型的自动成盒检测设备。

图中标记：1、检测区；2、待检区；3、气体控制区；4、动力控制区；5、主控电脑；6、操作面板；7、感光测试器；8、感光测试器控制设备。

具体实施方式

图2是本实用新型的自动成盒检测设备，如图2所示，本实用新型的成盒检测设备结构，包括：检测区1、待检区2、气体控制区3、动力控制区4、主控电脑5，这些部分与目前现有设备结构一致。不同之处在于本实用新型还包括：感光测试器7及感光测试器控制设备8，感光测试器7设置在检测区1正前方位置处，感光测试器7及感光测试器控制设备8之间通过感光测试器与控制设备的连接线9进行连接，感光测试器控制设备8上传数据至生产线数据库中，由人在外部通过电脑进行监控。通过此装置，能够实现对成盒的自动检测。由于无需人工来进行检测，故同时取消了操作面板。

下面详述本实用新型的工作原理。

首先，对于成盒检测中需要进行的各种模式的亮度，色度标准值进行测定，将值输入感光测试器的控制设备中。其次，对各种不良的亮度、色度、均匀度值进行设定。然后，开始进行测试，如果在对应的模式下，亮度、色度值超出设定值，则判定不良，进行记录。

如：对于亮点、亮线不良，在L0灰度等级下进行测试，标准亮度为0，不良区域的亮度值将大于0，根据设定值，如果亮度超出标准范围，则进行记录。记录数据包括亮点或亮线的数量、位置、距离等。

对于暗点、暗线，在L255白色、红色、绿色、蓝色模式下进行测试，标准亮度记为100，不良区域的亮度值将小于100，根据设定值，如果亮度超出标准范围，则进行记录。记录数据包括暗点或暗线的数量、位置、距离等。

对于Mura(一种画面品质不良)类不良，在L60，L127的灰度模式下进行测试，最佳均匀度设为100％，标准均匀度范围可以设为80％-100％，如果均匀度测定值未达到标准范围，则判定为有Mura类不良，进行记录。记录数据包括Mura类不良发生的面积、位置、形状等。

对于无法判断的不良类型，则进行记录，单独分装，在后工程中由作业员手动检测。