[实用新型]磁方位仪校验架无效
| 申请号： | 200720103477.8 | 申请日： | 2007-02-06 |
| 公开（公告）号： | CN201003957Y | 公开（公告）日： | 2008-01-09 |
| 发明（设计）人： | 魏春明;李园;雷艳平;顾凤娣 | 申请（专利权）人： | 大港油田集团有限责任公司 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00 |
| 代理公司： | 北京市中实友知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 唐维宁 |
| 地址： | 30028*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 方位 校验 | ||
【权利要求书】：
1.一种磁方位仪校验架，包括底座、蜗轮副、主轴、锁紧装置、托架，蜗轮副带动主轴转动，托架上有安装被校仪器的夹具，锁紧装置用于锁定蜗轮副，其特征是：主轴(8)上部固定安装有镜片架(10)，镜片架(10)为四方体，四方体的四个面上固定安装有光学反光镜片(13)，光学反光镜片(13)由调整螺丝(14)通过压片(15)固定，托架(16)固定安装在镜片架(10)的上面。
2.根据权利要求1所述的磁方位仪校验架，其特征是：所述主轴(8)与底座(1)的垂直度偏差≤5″；镜片架(10)四个面上光学反光镜片(13)正交偏差≤4″，托架(16)的上平面与主轴(8)的轴线垂直度偏差≤30″。
3.根据权利要求2所述的磁方位仪校验架，其特征是：所述的磁方位仪校验架中的金属零件、部件选用无磁材料。
4.根据权利要求3所述的磁方位仪校验架，其特征是：所述的磁方位仪校验架中的金属零件、部件选用H62、YL12材料。
5.根据权利要求4所述的磁方位仪校验架，其特征是：所述每个光学反光镜片(13)由沿光学反光镜片(13)圆周均布的3个调整螺丝(14)固定。
6.根据权利要求5所述的磁方位仪校验架，其特征是：所述镜片架(10)四方体的四面有等深的镜片槽(12)，光学反光镜片(13)安装在镜片槽(12)中。
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