[实用新型]RF测试开关

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种电器开关，尤其涉及一种使组配更加简单精确，大幅提高产品良率的RF测试开关。

背景技术

现有的RF测试开关广泛使用于RF电路测试的场合中，例如图1所示，现有的手机1内部的RF电路板2与手机天线3间，必需设置一测试开关4，在手机1出厂前，需进行出厂检验时，则通过该测试开关4的开启(ON)或关闭(OFF)来进行RF电路板2与天线3间的相关功能测试操作，由于测试开关4必需容置于体积与空间狭小的手机1内部，因此，测试开关4必需讲求体积小巧。

上述现有的测试开关4的必需要求体积小巧，在组配上必需将如小型的金属外壳、塑料芯心、金属端子及塑料底座予以进行组配，需经过至少四道的组配制程程序，相当复杂不便，即使考虑以全自动机械予以自动组配结合，也需耗费相当高的成本，且多个组配程序间易产生误差而形成大量的不良品，使现有RF测试开关除了制造成本偏高外，产品生产的质量与良率也不符合经济效益，实为目前现有的RF测试开关所极待解决的课题。

此外，在相关的先前专利技术文献方面，中国台湾专利公报第260904「线缆连接器插接座的改良结构」新型专利案，则揭示以金属保护罩、胶芯组及中央端子组所组成的线缆连接器插接座，其中，该胶芯组包括定位部、主体部及底板等多个组件，定位部、主体部及底板间以柱孔凹凸对位组合，除了组件繁多不便组配，而使该线缆连接器插接座的制造成本偏高及产品良率及质量下降外，由于现有RF测试开关所讲求的前提是体积小巧，因此，该多个定位部、主体部及底板组件间以柱孔凹凸对位组合更加不易，且组件精密度及容许误差值必需被严格要求，否则，胶芯组中的定位部、主体部及底板任何一个组件间的定位柱或定位孔只要精密度略降或容许误差值稍大，皆会产生无法组合形成不良品的问题，严重影响RF测试开关产品生产的效益及产业利用价值。

实用新型内容

本实用新型所要解决的主要技术问题在于，克服现有技术存在的上述缺陷，而提供一种RF测试开关，本实用新型所需要求的组件精密度可以降低，且组件容许误差值范围较大，进而使组配更加简单精确，大幅提高产品的良率。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：

一种RF测试开关，其特征在于包括：第一开关部件，包括一金属外罩及一胶芯组件，该金属外罩的下端周缘设有多个固定爪片，该胶芯组件，与该金属外罩间以预塑一体成型结合；第二开关部件，包括一端子组及一绝缘底座，该端子组包括至少一第一金属片及至少一第二金属片，该第一金属片与第二金属片间是以开关关系连结，绝缘底座供端子组的第一金属片及第二金属片容置结合，且该绝缘底座与端子组的第一金属片及第二金属片间是以预塑一体成型方式组合，并使该第一金属片一端及第二金属片一端露出于绝缘底座底部，该绝缘底座的底部周缘由第一开关部件的金属外罩的固定爪片弯折包覆结合，使第一开关部件结合第二开关部件。

前述的RF测试开关，其中第一开关部件的金属外罩顶端设有一容纳开口。

前述的RF测试开关，其中第一开关部件的胶芯组件顶端设有一结合部。

前述的RF测试开关，其中结合部内形成一开口。

前述的RF测试开关，其中第二开关部件的端子组的第一金属片一端形成一端子部。

前述的RF测试开关，其中端子部表面至少设有一凸块。

前述的RF测试开关，其中第二开关部件的端子组的第二金属片一端形成一端子部。

前述的RF测试开关，其中端子部表面至少设有一凸块。

前述的RF测试开关，其中第二开关部件的端子组的第一金属片与第二金属片间形成一单投开关连结结构。

前述的RF测试开关，其中第二开关部件的绝缘底座顶端形成一开口，其绝缘底座底部周缘设有多个凹槽。

本实用新型的RF测试开关的功效，是在于借由第一开关部件的金属外罩与胶芯组件为预塑成型结合成一体，与第二开关部件的端子组及绝缘底座为预塑成型结合为一体相互嵌组包覆，而使RF测试开关的制造成本可大幅降低及降低不良品产生的机率，同时，因只有第一开关部件、第二开关部件两个预塑模块开关组件组配，所需要求的组件精密度可以降低，且组件容许误差值范围较大，进而使组配更加简单精确，大幅提高产品的良率。

附图说明

下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。

图1是现有RF测试开关的应用架构图；

图2是本实用新型的RF测试开关的第一实施例的立体外观结构示意图；