[实用新型]一种用CCD测量光强突变位置的检测电路无效
| 申请号： | 200720075330.2 | 申请日： | 2007-10-09 |
| 公开（公告）号： | CN201075031Y | 公开（公告）日： | 2008-06-18 |
| 发明（设计）人： | 方华;李弢;张太会 | 申请（专利权）人： | 上海光子光电传感设备有限公司 |
| 主分类号： | G01J1/44 | 分类号： | G01J1/44;G08C17/02;G08C19/00;H04L29/00 |
| 代理公司： | 上海申汇专利代理有限公司 | 代理人： | 俞宗耀 |
| 地址： | 200233上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 ccd 测量 突变 位置 检测 电路 | ||
【权利要求书】：
1.一种用CCD测量光强突变位置的检测电路，包括信号光源、线阵CCD器件、A/D转换器、CPLD驱动控制电路、微处理器控制电路和外围终端模块，其特征在于：所述线阵CCD器件感光面接收信号光源光线的照射，所述CPLD驱动控制电路产生的工作时序与所述线阵CCD器件输入电连接，所述线阵CCD器件输出依次与运算放大器、A/D转换器电连接，所述A/D转换器输出通过CPLD驱动控制电路的数据与指令通道依次与后端微处理器控制电路、外围终端模块电连接。
2.根据权利要求1所述一种用CCD测量光强突变位置的检测电路，其特征在于：所述A/D转换器输出通过CPLD驱动控制电路与SRAM外部存储器电连接，所述CPLD驱动控制电路根据自定义数据传输协议，通过数据与指令通道与后端微处理器控制电路电连接。
3.根据权利要求1所述一种用CCD测量光强突变位置的检测电路，其特征在于：所述微处理器控制电路采用了以ARM为核心的高速嵌入式处理器。
4.根据权利要求1所述一种用CCD测量光强突变位置的检测电路，其特征在于：所述微处理器控制电路输入与温度控制器电连接。
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