[实用新型]采用PSG掺杂技术的VDMOS、IGBT功率器件无效

专利信息
申请号: 200720067355.8 申请日: 2007-02-14
公开(公告)号: CN201017889Y 公开(公告)日: 2008-02-06
发明(设计)人: 邵光平 申请(专利权)人: 上海富华微电子有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/739
代理公司: 上海京沪专利代理事务所 代理人: 沈美英
地址: 200122上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 采用 psg 掺杂 技术 vdmos igbt 功率 器件
【权利要求书】:

1.一种采用PSG掺杂技术的VDMOS、IGBT功率器件,由金属底层(1)、N+衬底层(2)(在IGBT功率器件中为P+衬底层)、N-外延层(3)、P-区(4)、P+区(5)、N+区(6)、热氧化SiO2栅氧层(7)、多晶硅栅层(8)、源栅隔离层(9)和热氧化SiO2栅氧层(7)金属表层(10)组成,其特征在于源栅隔离层(9)由磷硅玻璃PSG层(11)以单层的结构形式充任。

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