[实用新型]温度测试治具无效
| 申请号： | 200720033443.6 | 申请日： | 2007-01-06 |
| 公开（公告）号： | CN201014965Y | 公开（公告）日： | 2008-01-30 |
| 发明（设计）人： | 江大阳 | 申请（专利权）人： | 汉达精密电子(昆山)有限公司 |
| 主分类号： | G01K1/14 | 分类号： | G01K1/14 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 21530*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 温度 测试 | ||
1.一种温度测试治具，适用于固定若干探头，以测试一被测物上若干被测点处的温度；其特征在于包括；
一基板，其上设有若干穿孔；
若干支座，分别包括一套轴，这些套轴分别穿设于穿孔内，且这些套轴的端部分别设有一限位部，这些限位部的顶部分别固定一探头；
若干弹性元件，分别套设于套轴外，且这些弹性元件的一端分别抵持于限位部内侧，而这些弹性元件的另一端分别抵持于基板表面。
2.根据权利要求1所述的温度测试治具，其特征在于：穿孔的形状为圆形。
3.根据权利要求1所述的温度测试治具，其特征在于：基板上分设有若干定位装置。
4.根据权利要求3所述的温度测试治具，其特征在于：定位装置为定位柱，这些定位柱由基板表面垂直向上延伸。
5.根据权利要求1所述的温度测试治具，其特征在于：基板上分设有若干加热槽，加热槽内收容有加热块。
6.一种温度测试治具，适用于固定若干探头，以测试一被测物上若干被测点处的温度；其特征在于包括：
一基板，其上设有若干盲孔；
若干弹性元件，分别收容于盲孔内；
若干支座，分别顶持于弹性元件上方，且其末端穿入至盲孔内，且这些支座的顶部分别固定一探头。
7.根据权利要求6所述的温度测试治具，其特征在于：盲孔的形状为圆形。
8.根据权利要求6所述的温度测试治具，其特征在于：基板上分设有若干定位装置。
9.根据权利要求8所述的温度测试治具，其特征在于：定位装置为定位柱，这些定位柱由基板表面垂直向上延伸。
10.根据权利要求6所述的温度测试治具，其特征在于：基板上分设有若干加热槽，加热槽内收容有加热块。
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