[实用新型]高精密金属箔电阻器仪表测量装置无效
申请号: | 200720025043.0 | 申请日: | 2007-07-04 |
公开(公告)号: | CN201060712Y | 公开(公告)日: | 2008-05-14 |
发明(设计)人: | 李本善;丁福藏;王承业;王玉山 | 申请(专利权)人: | 济宁正和电子有限责任公司 |
主分类号: | H01C7/00 | 分类号: | H01C7/00;H01C13/00;G01R27/00;G01R35/00 |
代理公司: | 济宁众城专利事务所 | 代理人: | 江禹春 |
地址: | 272023山东省济宁*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 精密 金属 电阻器 仪表 测量 装置 | ||
技术领域:
本实用新型涉及一种高精密金属箔电阻器仪表测量装置,特别是高精密金属箔电阻器工业仪表测量装置设备。
背景技术:
目前,公知的电阻器产品按材料和结构特征分类为:有线绕电阻器和非线绕电阻器两种,在非线绕电阻器中,具有代表性的是膜式电阻器。线绕电阻器是由电阻丝在绝缘骨架上缠绕而成的,它具有较大的分布电容和电感圈,因此不适用于高频电路,电阻丝在缠绕的过程中不可避免地受到张力而延伸,同时由于绕制时的弯曲,使每圈电阻丝的内外侧受力不均,这些应力的应变存在,影响电阻器的稳定性,其精度低,金属膜电阻器由于金属膜内存在着晶格的不完整,晶格边界层的吸气,膜层的不连续性,膜层氧化和机械应度等因素,这类电阻器的稳定性较差,在使用中阻值变化往往超过原始精度,电阻温度系数也较大,不适用于工业仪表的精密测量系统中。
发明内容:
本实用新型的目的,是提供一种高精密金属箔电阻器仪表测量装置,它是为了解决现有电阻器产品的不足,提高电阻器产品的精度和稳定性与温度系数小的高精密金属箔电阻器。
本实用新型高精密金属箔电阻器仪表测量装置采取以下技术方案来实现的,它是由镍铬合金箔材料粘贴在氧化铝陶瓷基片上,采用半导体刻蚀工艺的电阻栅条图形和焊接区构成电阻芯片,电阻器内设置单片电阻芯片或者设置多片电阻芯片,电阻芯片上设置粗中细调调节器,内外引线分别连接焊接区引出电极,内引线的一端与电阻芯片上焊接区连接,内引线的另一端和外引线与垫片焊接后固定在电阻芯片的背面,减少外应力对电阻芯片的影响,电阻芯片装置在机壳内,由密封胶密封固定。
本实用新型高精密金属箔电阻器仪表测量装置的效果是平面结构设计,操作方便,分布电感量和分布电容量很小,频率特性稳定,镍铬合金箔和氧化铝陶瓷基片两种材料热膨胀系数具有自动补偿应变的特性,使电阻温度系数在零下55度~125度的温度范围内控制在±5×10-6/℃以内,阻值精度达到±0.005%的水平,阻值范围为0.1Ω~720KΩ,广泛用于高精密金属箔电阻器工业仪表测量装置设备上。
附图说明:
本实用新型高精密金属箔电阻器仪表测量装置将结合附图作进一步详细描述。
图1是本实用新型高精密金属箔电阻器仪表测量装置的结构示意图。
图2是本实用新型高精密金属箔电阻器仪表测量装置的A-A剖面图。
图3是本实用新型高精密金属箔电阻器仪表测量装置的后视结构示意图。
具体实施方式:
参照图1、2、3,本实用新型高精密金属箔电阻器仪表测量装置,它是由镍铬合金箔材料粘贴在氧化铝陶瓷基片上,采用半导体刻蚀工艺的电阻栅条图形和焊接区5构成电阻芯片3,电阻器内设置单片电阻芯片3或者设置多片电阻芯片3,电阻芯片3上设置粗中细调调节器,内外引线分别连接焊接区5引出电极,内引线6的一端与电阻芯片3上焊接区5连接,内引线6的另一端和外引线1与垫片2焊接后固定在电阻芯片3的背面,减少外应力对电阻芯片3的影响,电阻芯片3装置在机壳7内,由密封胶4密封固定。
本实用新型高精密金属箔电阻器仪表测量装置的实施例,它是由镍铬合金箔材料粘贴在氧化铝陶瓷基片上,采用半导体刻蚀工艺的电阻栅条图形和焊接区5构成电阻芯片3,电阻器内设置单片电阻芯片3或者设置多片电阻芯片3,电阻芯片3上设置粗中细调调节器,内外引线分别连接焊接区5引出电极,内引线6的一端与电阻芯片3上焊接区5连接,内引线6的另一端和外引线1与垫片2焊接后固定在电阻芯片3的背面,减少外应力对电阻芯片3的影响,电阻芯片3装置在机壳7内,由密封胶4密封固定。
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