[实用新型]CSK－IA类试块

说明书

1、技术领域

本实用新型涉及超声波探伤试块加工技术，具体地说是一种CSK-IA类试块。

2、背景技术

目前，用于超声波测试用的试块品种很多，普遍存在的不足时测量精度不高、需要反复测量，因而加大了测试人员的工作量。

3、发明内容

本实用新型的目的是克服上述缺点，提供一种测量精度相对较高的CSK-IA类试块。本实用新型的技术方案是，试块体的结构是一长≤300mm，宽≤150mm，高≤40mm的长方体，试块体的一端加工有圆角台阶，其中下圆角台阶的曲率半径≤180mm，上圆角台阶的曲率半径≤50mm，在试块体的中间垂直钻有通孔和台阶孔，试块体的边部加工有槽。

本实用新型的优点是：

1)能很好地调整纵波检测范围和扫描速度；

2)利用试块的厚度和宽度，测试仪器的水平线性、直线行和动态范围；

3)测量探头和仪器的分辨率；

4)侧斜探头的折射角；

5)侧斜探头的入射角；

6)调整横波探测范围和扫描速度。

7)结构简单、使用方便、范围广和测试精度高。

4、附图说明

附图1是CSK-IA类试块的主视结构示意图；

附图2是CSK-IA类试块的俯视结构示意图；

附图3是CSK-IA类试块的左视结构示意图。

附图中的标记分别表示；试块体1；通孔2；上圆角台阶3；下圆角台阶4；槽5；台阶孔6；刻字7。

5、具体实施方式

下面结合附图对本实用新型的CSK-IA类试块作以下详细说明。

如附图所示，本实用新型的CSK-IA类试块，试块体1的结构是一长≤300mm，宽≤150mm，高≤40mm的长方体，试块体1的一端加工有圆角台阶，其中下圆角台阶4的曲率半径≤180mm，上圆角台阶3的曲率半径≤50mm，在试块体1的中间垂直钻有通孔2和台阶孔5，试块体的边部加工有槽5。

试块体的上表面刻有字7，刻字7内容包括试块名称、商标、标准号、制造编号和制造厂家。

实施例：

本实用新型的CSK-IA类试块的具体型号包括有以下16种：

CSK-1A     A型护环

CSK-1B     瓷绝缘子试块JYZ-1

CSK-I C    瓷绝缘子试块JYZ-2

LIS-STB-A3 瓷绝缘子试块JYZ-3

LS-1       瓷绝缘子试块JYZ-4

LS-2       小径管(DL-1)

SD-I       WGT-1

V-1SGB     试块

本实用新型的CSK-IA类试块的用途是：

1)调整纵波检测范围和扫描速度；

2)测试仪器的水平线性、直线行和动态范围；

3)测量探头和仪器的分辨率；

4)测斜探头的折射角；

5)测斜探头的入射角；

6)调整横波探测范围和扫描速度。

本实用新型的CSK-IA类试块和现有技术相比，具有设计合理、结构简单、使用方便、测试范围宽，既能测试探头又能测试仪器等特点，因而，具有很好的推广使用价值。