[实用新型]硅片生产中的载片器无效
| 申请号: | 200720002831.8 | 申请日: | 2007-01-29 |
| 公开(公告)号: | CN201032628Y | 公开(公告)日: | 2008-03-05 |
| 发明(设计)人: | 刘卓 | 申请(专利权)人: | 刘卓 |
| 主分类号: | H01L21/673 | 分类号: | H01L21/673;C23C16/458 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 100032北京市西城区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 硅片 生产 中的 载片器 | ||
技术领域
本实用新型涉及硅片生产技术领域,特别是指一种硅片生产中的载片器。
背景技术
在半导体(即硅片)生产工艺过程中,通常采用半导体薄膜沉积工艺进行半导体的镀膜,例如可采用PECVD(Plasma EnhancedChemical Vapour Deposition,等离子增强化学气相沉积)的沉积工艺进行氮化硅的真空镀膜。下面以太阳能电池用硅片生产工艺进行简介:
在太阳能电池用硅片生产过程中,在进行镀膜时,可将未镀膜的硅片放入平板式的载片框架中,载片器的框架包含有若干个小工位,每个小工位的四周有挂钩,将硅片定位在工位上。然后,将载片框放置在PECVD真空镀膜设备腔体内,采用PECVD工艺进行镀膜。镀膜结束后,取出载片框,将硅片从载片框上卸取下来。
目前,组成载片器的框架多为石墨材料制成,比较笨重、易损。且碳框结构的框架导轨在PECVD真空镀膜设备运行中易断裂,导致硅片破碎,甚至是镀膜设备无法正常运行。
并且,目前将硅片放置在载片器的载片框上时,载片框上的挂钩与硅片接触面积较大,对所承载的硅片来说产生了遮挡的弊处,使得所接触的地方镀膜不均匀,影响硅片镀膜质量。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种硅片生产中的载片器,以提高所承载的硅片的镀膜质量。
本实用新型提供的一种硅片生产中使用的载片器,在载片器的两侧有导轨,在导轨上设置紧贴导轨的、高出载片器的防断头部件。
其中,导轨上设置有竖起的卡子,防断头部件远离导轨处有凹进去的部分,所述防断头部件紧贴导轨时其凹处与卡子相吻合。
其中,载片器还包括用于支撑硅片的挂钩。
其中,所述挂钩用于支撑硅片的末端为线状、一点、锯齿状或波浪状。
其中,所述载片器采用碳碳材质。
由上可见,本实用新型导轨处加厚处理,增加了防断头部件,且采用了碳碳框,减轻了载片框的重量,增强了强度,延长了使用寿命,相对降低了维护成本和生产成本。且由于防断头部件可装卸、因此维护时可仅更换易损的防断头部件,减少了维护成本。
另一方面,由于载片器的挂钩与硅片的接触部分采用了点接触、线接触或多点接触,使得载片框上的挂钩与硅片接触面积尽量减小,提高了硅片镀膜质量。
附图说明
图1为载片框的示意图;
图2为载片框局部放大示意图;
图3为载片框的挂钩示意图;
图4为挂钩放大示意图。
具体实施方式
如图1示出了本实用新型的载片框,在该载片框的侧边导轨处,本实用新型采用了加厚处理,从而加强了载片框的抗折强度。
具体可参见图2示出的局部放大图来说,本实用新型在导轨处竖起卡子作为防断头的固定件和保护件,防断头部件远离导轨处有凹进去的部分,与卡子相对应,将防断头部件垂直导轨下压可紧贴导轨,且卡子恰好与防断头部件的凹部相吻合,将防断头部件牢牢固定在导轨上。当需要更换防断头部件时,向外拨动卡子即可取出防断头部件。防断头部件可以用来分解收到的对载片框导轨的冲击,从而减少载片框的损坏。
并且,本实用新型可以采用碳碳材质,从而增大了强度和抗折度,同时减轻了重量。
另一方面,如图3示出了本实用新型的挂钩,其放大图参见图4所示。用于支撑所放置的硅片的部分采用了线接触,这样减小了挂钩与硅片的接触面积,提高了镀膜的质量。当然,挂钩用于支撑所放置的硅片的部分也可以采用点接触,将挂钩用于支撑的末端设置为尖端。这样可以进一步减小与硅片的接触面。但是相应的可能会造成刺伤硅片,且尖端容易磨损折断,故本实施例中采用了线接触。当然,也可以将接触面设置为多个点,如将挂钩与硅片接触的末端设置为锯齿状、波浪状,这样挂钩与硅片的接触为一排的多个点。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





