[发明专利]有源矩阵显示装置和电子装置有效
申请号: | 200710307764.5 | 申请日: | 2007-09-11 |
公开(公告)号: | CN101202014A | 公开(公告)日: | 2008-06-18 |
发明(设计)人: | 山下淳一;内野胜秀 | 申请(专利权)人: | 索尼株式会社 |
主分类号: | G09G3/30 | 分类号: | G09G3/30;G09G3/32;H01L27/32 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 黄小临 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 有源 矩阵 显示装置 电子 装置 | ||
技术领域
本发明涉及具有诸如有机EL设备的发光设备作为像素的有源矩阵显示装置,并涉及结合这种显示装置的电子装置。本发明特别涉及校正具有缺陷的像素的技术。
背景技术
近些年来,有机电致发光(EL)显示装置作为平板屏幕显示装置已经受到关注。由于该有机EL显示装置使用自发光设备作为像素,实现了宽视角,并进一步消除了对背光的需要,因此实现薄显示装置。此外,这种有机EL显示装置的使用降低了功率损耗,并导致即时响应。
这种有机EL显示装置包括基板和以矩阵方式排列于其上的有机EL设备。每个有机EL设备包括阳电极和阴电极以及夹在阳电极和阴电极之间并具有发光功能的有机发光层。
当生产有机EL设备时,如果大气中细小的污染物颗粒在粘附在阳极和阴极之间,则生成短路缺陷。在该情况下,有机EL设备不发射得以识别出所谓暗点缺陷的光。已经发展并公开了校正这种暗点缺陷的技术,例如在公开号为2003-178871、2003-233329和2003-280593的日本未审查专利申请中。
公开号为2003-178871的日本未审查专利申请公开了当由于短路而生成缺陷部分时,使用光学显微镜在具有暗点的像素中发现缺陷部分的技术。当发现短路缺陷部分时,发射激光束,使得短路缺陷部分处的有机EL层被隔离。当隔离了短路缺陷部分时,像素正常发光,即,校正了像素。
公开号为2003-233329的日本未审查专利申请公开了发射激光束到与有机EL设备中的暗点对应的短路缺陷部分上,以移除排列在包括像素中短路缺陷部分的区域中的电极。从而,其中电极被移除的有机EL设备的部分不发光。然而,由于电流流经有机EL设备的其余部分,所以像素发射光。因而,像素基本正常化。
公开号为2003-280593的日本未审查专利申请公开了使用包括多个子像素的像素的有源驱动显示装置。该显示装置包括至少一个像素单元,该像素单元具有由光调制设备形成的像素并具有用于驱动控制像素的有源设备,以驱动包括第一子像素和第二子像素的有源驱动显示装置。显示装置包括用于驱动控制第一子像素的第一子像素控制器,以显示包括中间色的多色调,并包括用于驱动控制第二子像素的第二子像素控制器,以进行亮显示或暗显示的二元显示。
发明内容
在公开号为2003-178871和2003-233329的日本未审查专利申请中公开的恢复像素技术中,激光束发射到小区域上,即包括有机EL设备的短路缺陷的部分上,以校正缺陷像素。具体地,在公开号为2003-178871的日本未审查专利申请中,通过向缺陷部分中的有机EL层发射激光束来隔离该缺陷部分中的有机EL层。在公开号为2003-233329的日本未审查专利申请中,缺陷部分中的电极被移除。在这两种情况下,将激光束发射到小区域上,即短路缺陷部分上,并且这使得校正处理很困难。而且,由于这种缺陷部分通常是小部分,需要很大努力使用显微镜来发现该缺陷部分。此外,由于将激光束发射到小区域上,校正处理变得复杂。
在公开号为2003-280593的日本未审查专利申请中,公开了一种处理暗点缺陷的技术,其中在像素中提供多个驱动晶体管作为子像素,并且排列子像素以使它们重叠并集成在像素中。然而在该技术中,驱动晶体管和开关晶体管的数量与子像素数量成比例地增加。另外,信号线数量和像素电容量也增加了。像素电路元件增加的数量是高分辨率面板生产中难度的重要因素。因而,现有技术具有使高分辨率面板的生产困难的缺点,并且没有满足当前高分辨率面板的强烈需求。
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