[发明专利]检测通电和断电的电路

说明书

技术领域

各示例实施例涉及在半导体器件中检测通电和断电的方法和电路。

背景技术

因为电子系统不断地变得更小，所以有关减少由半导体器件耗散的功率的研究已经增加。例如，半导体器件中的各等待电路块可依赖于操作模式断电，以便降低功耗。在断电状态中，电路块不完全断电，但是关闭包括在该电路块中的电流源以减少漏电流。

通电时间和断电时间可包括在半导体存储器器件的测试说明书中。

在检测通电或断电的传统方法中，通过测量流过电路的平均电流确定该电路进入断电模式还是退出断电模式。因为没有使用测试器实时测量电路的操作电流，所以使用传统方法不能测量断电进入时间或断电退出时间。因为不得不对通电/断电的测量时间增加余量，所以可通过测试确定的、用于半导体存储器器件的通电/断电的等待时间可能更长。因此，操作速度可能劣化。

发明内容

示例实施例提供一种能够实时提供通电时间和断电时间的通电/断电检测电路。示例实施例还提供一种具有通电/断电检测电路的半导体器件和具有该半导体器件的存储器系统。此外，示例实施例提供一种用于实时提供通电时间和断电时间的检测通电或断电的方法。

根据示例实施例，通电/断电检测电路可包括功率检测电路、选择电路和确定电路。

基于对应于流过多个功能块的电流的多个读出(sense)信号，功率检测电路可产生多个检测信号。基于通电/断电模式选择控制信号和检测信号，选择电路可产生多个选择信号。确定电路响应于通/断控制信号，对选择信号执行逻辑操作以产生通电完成信号和断电完成信号。

通电/断电检测电路还可以包括解码器，其解码功率模式信号以产生通电/断电检测模式选择控制信号和通/断控制信号。

当所有的选择信号有效时，通电完成信号可以有效。通电完成信号有效以响应最后有效的选择信号。

通过从当功率模式信号有效时的时刻到当通电完成信号有效时的时刻的时间段，可以确定通电延迟。

当所有的选择信号无效时，断电完成信号有效。通电完成信号可以有效以响应最后无效的选择信号。

通过从当功率模式信号有效时的时刻到当断电完成信号有效时的时刻的时间段，可以确定断电延迟。

根据示例实施例，半导体器件可包括内部电路和通电/断电检测电路。

内部电路可包括多个功能块，并且可产生多个读出信号。基于功率模式信号和读出信号，通电/断电检测电路可产生通电完成信号和断电完成信号。通电完成信号和断电完成信号可分别指示通电时间和断电时间。

根据示例实施例，存储器系统可包括半导体存储器器件和存储器控制器。

半导体存储器器件可存储输入数据或输出存储数据，以响应时钟信号、命令信号和地址信号。半导体存储器器件可实时检测流过各电路块的电流以确定通电时间和断电时间。半导体存储器器件可产生通电完成信号和断电完成信号。

存储器控制器可向半导体存储器器件提供时钟信号、命令信号、地址信号以及输入数据，以响应对应通电完成信号或断电完成信号。

根据示例实施例，一种检测通电或断电的方法可包括：基于对应流过多个功能块的电流的多个读出信号产生多个检测信号；基于通电/断电模式选择控制信号和检测信号产生多个选择信号；以及响应于通/断控制信号对选择信号执行逻辑操作，以产生通电完成信号和断电完成信号。

附图说明

从以下结合附图进行的详细描述中，将更清楚地理解各示例实施例。如在此描述的，图1-9表示非限制的示例实施例。

图1是图示根据示例实施例的存储器系统的方块图；

图2是图示根据示例实施例的通电/断电检测电路的方块图；

图3是图示包括在图2的通电/断电检测电路中的功率检测器的示例的方块图；

图4是图示包括在图2的通电/断电检测电路中的功率检测器的另一示例的方块图；

图5是图示图3和图4的功率检测器的磁滞特性的图；

图6是图示包括在图2的通电/断电检测电路中的选择电路和确定电路的示例的方块图；

图7是图示包括在图2的通电/断电检测电路中的选择电路和确定电路的另一示例的方块图；

图8和图9是图示图2的通电/断电检测电路的操作的时序图。

具体实施方式

在此公开了详细的示例实施例。然而，为了描述各示例实施例的目的，在此公开的特定结构和功能的细节，仅仅是表示性的。然而，各示例实施例可包括许多替代的形式，而不应解释为仅限于在此提出的各实施例。