[发明专利]根据芯片脚位及回送信号特性重新配置存储器系统及方法

说明书

技术领域

本发明是关于一种存储器的系统与存储器转换的方法，尤指一种根据芯片脚位及回送信号特性重新配置存储器系统及方法，用以扩充控制器的撷取数据存储器容量。

背景技术

请参阅图1，是本发明撷取数据存储器重新配置前的系统结构图，其亦为传统的芯片测试设备的系统结构图。其中，可配置存储器1包括有一第一储存区11、一第二储存区12、及一第三储存区13。并分别以第一储存区11、及第三储存区13储存特征值。再以第二储存区12储存预设回送信号值。

首先，数字电路20读取第一储存区11、及第三储存区13的特征值，再由驱动器30将特征值输入至待测芯片44的输入脚41及输出/输入脚43。

随后，待测芯片44的输出脚42相应输出一组数据。此时，数字电路20会读取第二储存区12的预设回送信号值，与比较器3回送值比较是否吻合最后，再将待测芯片44输出的数据运算结果储存撷取数据存储器21，作为测试纪录，以利后续分析使用。在已知的可配置存储器1中，其储存区11、12、13的容量远大于撷取数据存储器21的储存容量。就一般消费性芯片而言，其输出数据所需储存容量并不大。因此，储存于已知的撷取数据存储器21中已是足够。

但对于特殊芯片而言，其输出脚位的输出值所需储存容量很大，而且需于测试完成后再进行芯片输出数据的分析。因此，已知的撷取数据存储器21其容量配置远不敷使用。需再另外增购存储器，以扩充撷取数据存储器容21的容量。不但提高测试成本、更占用测试机台的空间。

发明内容

本发明的目的在于，提供一种根据芯片脚位及回送信号特性重新配置存储器系统及方法，其不需再另外增购存储器，以扩充撷取数据存储器容的容量，具有减少测试成本和不占用测试机台的空间的优点。

本发明是为一种根据芯片脚位及回送信号特性重新配置存储器的系统，主要包括一待测芯片、一可配置存储器、及一控制器。

待测芯片设置有至少一输入脚、至少一输出脚、及至少一输入/输出脚。

可配置存储器配置有一第一储存区、一第二储存区、及一第三储存区。第一储存区、及第三储存区作为储存输入待测芯片的特征值之用；而第二储存区则用以储存预设回送信号值。

此外，控制器也分别与可配置存储器、待测芯片电性连接。控制器包括一撷取数据存储器、一驱动器、一比较器、及一比较参考值。随后，控制器读取第一储存区、及第三储存区的特征值，再将特征值输出至待测芯片的至少一输入脚、及至少一输入/输出脚。

接着，控制器读取第二储存区的预设回送信号值，以作为待测芯片输出位值输出的比较基准。之后，再将待测芯片输出值运算比较，将结果储存至撷取数据存储器中。

其中，控制器判断可配置存储器的预设回送信号值均是相同，并以比较参考值替代可配置存储器的第二储存区储存的预设回送信号值。则可将第二储存区重新配置为一撷取数据扩充区，用以扩充控制器的撷取数据存储器容量。

如此，即可以在现有的测试机台的系统结构，不需另外添加存储器的情况下，即可增加撷取数据存储器容量。因此，可以达到结省成本及系统空间的目的。

上述的控制器可包括一数字电路、一比较器、及一驱动器。其中，比较器可与可程序化逻辑门阵列电性连接，以作为待测芯片输出值的高低电位辨别基准。而驱动器亦与数字电路电性连接，用以将可配置存储器的数据驱动输出至待测芯片。除前述的系统结构外，本发明的另一特色是在下列执行方法，包括下列步骤：

(A)提供一可配置存储器、及一控制器，可配置存储器包括多个储存区，其用以储存至少一特征值，及储存预设回送信号值，控制器其分别与可配置存储器、待测芯片电性连接，控制器包括一撷取数据存储器、一比较参考值；

(B)判断可配置存储器所储存的至少一预设回送信号值是否相同；

(C)当至少一预设回送信号值均相同，则设定比较参考值为预设回送信号值，以比较参考值取代可配置存储器所储存的比较参考值；

(D)指定多个储存区的部份区块，重新配置为一撷取数据扩充区，用以扩充撷取数据存储器容量。

上述方法可由软件程序写成以逐步执行之。因此，本发明的方法可以以固件语言撰写后再加载一控制器中，以利执行。

附图说明

为使审查员能对本发明的特征、目的及功能有更进一步的认知与了解，下文特将本发明的装置的相关细部结构以及设计的理念原由进行说明，以使得审查员可以了解本发明的特点，详细说明陈述如下，其中：

图1是本发明撷取数据存储器重新配置前的系统结构图。