[发明专利]物体检测装置和方法有效
| 申请号: | 200710305499.7 | 申请日: | 2007-12-28 |
| 公开(公告)号: | CN101470802A | 公开(公告)日: | 2009-07-01 |
| 发明(设计)人: | 艾海舟;黄畅;劳世红;山下隆义 | 申请(专利权)人: | 清华大学;欧姆龙株式会社 |
| 主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00 |
| 代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 黄纶伟 |
| 地址: | 100084*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 物体 检测 装置 方法 | ||
1.一种物体检测装置,所述物体检测装置用于从图像中检测预定物 体,所述物体检测装置包括一个或更多个强分类器,各强分类器包括一 个或更多个弱分类器,各弱分类器包括特征提取部和函数映射部,所述 特征提取部提取所述图像的特征量,所述函数映射部根据所述特征提取 部提取的所述特征量,确定所述图像的弱分类,其特征在于,所述特征 提取部包括:
特征点提取部,从所述图像中提取预定的特征点对组合;
像素值获取部,获得所述特征点对组合中的各特征点的像素值;
特征点比较部,根据像素值获取部获得的像素值,对各特征点对中 的两个特征点进行比较,获得逻辑值;以及
特征量获得部,根据该逻辑值,确定所述图像的特征量;
其中所述特征点比较部以以下方式中的一种获得所述逻辑值:
I、对各特征点对中的两个特征点的像素值进行直接比较,即根据以 下公式(1)进行计算,根据计算结果与0的关系,获得二值逻辑值1或 二值逻辑值0;
II、对各特征点对中的两个特征点的像素值进行累积比较,即根据以 下公式(2)进行计算,根据计算结果与0的关系,获得二值逻辑值1或 二值逻辑值0;
III、对各特征点对中的两个特征点的像素值进行扩展累积比较,即 依据以下公式(3)进行计算,根据计算结果与0的关系,获得二值逻辑 值1或二值逻辑值0;
gi+(x)-gi-(x),i=1,…,n (1)
其中gi+和gi-分别表示第i对特征点对中的一个特征点和另一个特征 点的像素值。
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