[发明专利]图像传感器及其制造方法无效
| 申请号: | 200710305318.0 | 申请日: | 2007-12-26 |
| 公开(公告)号: | CN101211949A | 公开(公告)日: | 2008-07-02 |
| 发明(设计)人: | 韩昌勋;黄俊 | 申请(专利权)人: | 东部高科股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;H01L21/822;H01L21/71 |
| 代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人: | 冯志云 |
| 地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 图像传感器 及其 制造 方法 | ||
1.一种图像传感器,包括:
滤色镜层,位于半导体衬底上;以及
微透镜阵列,位于所述滤色镜层上且包括非光敏绝缘层,所述微透镜阵列包括位于所述滤色镜层中第一滤色镜上的第一多个微透镜、及位于所述滤色镜层中第二滤色镜上的第二多个微透镜,所述第一多个微透镜和所述第二多个微透镜具有彼此不同的厚度。
2.根据权利要求1所述的图像传感器,还包括:平坦化层,位于所述滤色镜层上。
3.根据权利要求1所述的图像传感器,还包括:保护层,位于所述微透镜上。
4.根据权利要求3所述的图像传感器,其中所述保护层包括低温氧化物层和旋涂玻璃层至少其中之一。
5.根据权利要求1所述的图像传感器,其中所述第一滤色镜是绿色滤色镜,且所述第二滤色镜是红色滤色镜和蓝色滤色镜至少其中之一。
6.一种图像传感器,包括:
滤色镜层,位于半导体衬底上;以及
微透镜阵列,位于所述滤色镜层上且包括非光敏绝缘层,所述微透镜阵列包括位于所述滤色镜层中红色滤色镜上的第一微透镜、位于所述滤色镜层中绿色滤色镜上的第二微透镜、及位于所述滤色镜层中蓝色滤色镜上的第三微透镜,其中所述第一微透镜、第二微透镜及第三微透镜具有相同的厚度或彼此不同的厚度。
7.根据权利要求6所述的图像传感器,还包括:平坦化层,位于所述滤色镜层上。
8.根据权利要求6所述的图像传感器,还包括:保护层,位于所述微透镜上。
9.根据权利要求8所述的图像传感器,其中所述保护层包括低温氧化物层和旋涂玻璃层至少其中之一。
10.一种制造图像传感器的方法,包括以下步骤:
在滤色镜层上形成非光敏绝缘层;
在所述非光敏绝缘层上形成光敏层;
通过图案化所述光敏层来形成牺牲微透镜;
通过蚀刻所述牺牲微透镜和所述非光敏绝缘层,由所述非光敏绝缘层或在所述非光敏绝缘层中形成微透镜阵列。
11.根据权利要求10所述的方法,还包括以下步骤:在所述滤色镜层上形成平坦化层。
12.根据权利要求10所述的方法,其中相邻的微透镜是无间隙的。
13.根据权利要求10所述的方法,其中所述牺牲微透镜包括位于所述滤色镜层中绿色滤色镜上的第一多个牺牲微透镜以及位于所述滤色镜层中红色和/或蓝色滤色镜上的第二多个牺牲微透镜,所述第一牺牲微透镜和所述第二牺牲微透镜具有彼此不同的厚度。
14.根据权利要求10所述的方法,其中所述牺牲微透镜包括位于所述滤色镜层中红色滤色镜上的第一牺牲微透镜、位于所述滤色镜层中绿色滤色镜上的第二牺牲微透镜、及位于所述滤色镜层中蓝色滤色镜上的第三牺牲微透镜,所述第一牺牲微透镜、所述第二牺牲微透镜及所述第三牺牲微透镜全部具有相同的厚度。
15.根据权利要求10所述的方法,其中所述牺牲微透镜包括位于所述滤色镜层中红色滤色镜上的第一牺牲微透镜、位于所述滤色镜层中绿色滤色镜上的第二牺牲微透镜、及位于所述滤色镜层中蓝色滤色镜上的第三牺牲微透镜,所述第一牺牲微透镜、所述第二牺牲微透镜及所述第三牺牲微透镜具有彼此不同的厚度。
16.根据权利要求10所述的方法,还包括以下步骤:在所述微透镜上形成保护层。
17.根据权利要求16所述的方法,其中所述保护层包括低温氧化物层和旋涂玻璃层至少其中之一。
18.根据权利要求10所述的方法,其中所述牺牲微透镜和所述非光敏绝缘层以大约1∶1的蚀刻比被毯覆式蚀刻。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东部高科股份有限公司,未经东部高科股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200710305318.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种从含酚废水中萃取酚类化合物的方法
- 下一篇:电连接器
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的





