[发明专利]多曝光控制方法及多曝光控制装置有效
| 申请号: | 200710305083.5 | 申请日: | 2007-12-27 |
| 公开(公告)号: | CN101197942A | 公开(公告)日: | 2008-06-11 |
| 发明(设计)人: | 陈海 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
| 主分类号: | H04N5/235 | 分类号: | H04N5/235;H04N5/243 |
| 代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 逯长明 |
| 地址: | 518129广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 曝光 控制 方法 装置 | ||
技术领域
本发明涉及图像处理技术领域,特别涉及一种多曝光控制方法及多曝光控制装置。
背景技术
在现实场景中,人眼能感觉的动态范围很大,既能察觉出亮度为10-3cd/m2的星光,也能察觉出亮度为105cd/m2的阳光,并且人眼在很暗和很亮的情况下也能察觉到现实场景中的各种细节。而目前的图像采集设备的亮度动态范围较低,在特别亮的场景不能看到相应的亮细节,在特别暗的场景不能看到相应的暗细节,因此,图像采集设备和实际场景以及人眼能感知的亮度动态范围差距很大。
为了解决上述问题,现有技术提出了通过轮换曝光的方法,对同一场景得到不同曝光时间的图像,用图像处理的方法合成大动态范围的图像。现有技术提供的一种多曝光控制方法,该方法需要分别对亮暗控制器设置:太亮的亮象素个数占亮象素总数的百分比阈值为B1,太暗的亮象素个数占亮象素总数的百分比阈值为D1,太亮的暗象素个数占暗象素总数的百分比阈值为B2,太暗的暗象素个数占暗象素总数的百分比阈值为D2,其中,亮象素和暗象素的曝光时间是分别控制的。
图1示出了亮象素的曝光时间控制方法,该方法具体包括:
步骤101、捕捉图像。该步骤中的术语图像是指图像序列中至少一帧。
步骤102、计算太亮的亮象素个数。
该步骤中具体是将各单独的亮象素的信号电平与预定的BPTB阈值比较,BPTB阈值表示“亮象素太亮”阈值。
步骤103、太亮的亮象素个数占亮象素总数的百分比是否大于阈值B1,如果是,执行步骤104,如果否,执行步骤105。
步骤104、减少亮象素的曝光时间,结束本流程。
步骤105、计算太暗的亮象素个数。
该步骤中具体是将各单独的亮象素的信号电平与预定的BPTD阈值比较,BPTD阈值表示“亮象素太暗”阈值。
步骤106、太暗的亮象素个数占亮象素总数的百分比是否大于阈值D1,如果是,执行步骤107,如果否,结束本流程。
步骤107、增加亮象素的曝光时间,结束本流程。
图2示出了暗象素的曝光时间控制方法,该方法具体包括:
步骤201、捕捉图像。该步骤中的术语图像是指图像序列中至少一帧。
步骤202、计算太暗的暗象素个数。
步骤203、太暗的暗象素个数占暗象素总数的百分比是否大于阈值D2,如果是,执行步骤204,如果否,执行步骤205。
步骤204、增加暗象素的曝光时间,结束本流程。
步骤205、计算太亮的暗象素个数。
步骤206、太亮的暗象素个数占暗象素总数的百分比是否大于阈值B2,如果是,执行步骤207,如果否,结束本流程。
步骤207、减少暗象素的曝光时间。
现有技术的缺点是:
1、现有技术提供的亮象素和暗象素镶嵌的CMOS成像模式对工艺要求非常高,出厂时亮象素和暗象素的材料特征已经决定了该CMOS传感器的动态范围,由此确定了所能拍摄图像的动态范围。
2、采用亮象素和暗象素镶嵌的CMOS成像模式会降低图像的分辨率。
发明内容
本发明实施例要解决的技术问题是提供一种多曝光控制方法及多曝光控制装置,有利于扩大图像的动态范围。
有鉴于此,本发明实施例提供:
一种多曝光控制方法,包括:
获取亮图像和暗图像;所述亮图像的曝光时间大于所述暗图像的曝光时间;
获取亮图像中象素的可信度和暗图像中象素的可信度;
根据所获取的亮图像中象素的可信度和暗图像中象素的可信度,调整所述亮图像的曝光时间或所述暗图像的曝光时间。
一种多曝光控制装置,包括:
图像获取单元,用于获取亮图像和暗图像;所述亮图像的曝光时间大于所述暗图像的曝光时间;
可信度获取单元,用于获取亮图像中象素的可信度和暗图像中象素的可信度;
调整单元,用于根据所获取的亮图像中象素的可信度和暗图像中象素的可信度,调整所述亮图像的曝光时间或所述暗图像的曝光时间。
上述技术方案中的一个技术方案具有如下有益效果:
本发明实施例将曝光时间不同的多个图像区分为亮图像和暗图像,获取亮图像中象素的可信度和暗图像中象素的可信度,并根据所获取的亮图像中象素的可信度和暗图像中象素的可信度,调整亮图像的曝光时间和/或暗图像的曝光时间,实现利用亮图像和暗图像合成大动态范围的图像,而且不会影响合成图像的分辨率。
附图说明
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