[发明专利]再生装置以及再生方法

说明书

相关技术的交叉参考

本发明包含与于2006年12月14日向日本专利局提交的日本专利申请JP 2006-337511相关的主题，其全部内容结合于此作为参考。

技术领域

本发明涉及再生装置和再生方法，其用于再生以由于参照光和信号光之间的干涉而产生的干涉条纹的形式记录在全息记录介质上的数据。

背景技术

在全息记录/再生技术中，尤其是在用于光学存储的全息记录/再生技术中，诸如透射型液晶面板或者DMD(数字微镜器件)的SLM(空间光调制器)用于将给定信号光的光强度调制成例如具有电平“1”(例如，对应于高强度)或者电平“0”(例如，对应于低强度)的比特序列。

在光调制中，例如，如图2所示，SLM对通过SLM的中心部分的信号光的光强度进行调制，并输出所得到的经过调制的信号光，以使经过调制的信号光被通过SLM的环形外围部分的参照光围绕并且从其处输出。根据待记录的数据所调制的信号光与参照光一起落在全息记录介质上，从而出现信号光和参照光之间的干涉，并且所得到的干涉条纹被记录作为全息记录介质上的数据。

在数据的再生中，经由SLM仅生成参照光，并且用从SLM输出的参照光照射全息记录介质。结果，干涉条纹使参照光衍射。然后，通过衍射光使图像形成在诸如CCD(电荷耦合器件)或者CMOS(互补金属氧化物半导体)传感器的图像传感器上，从而再生数据的比特序列。

以同轴方式提供信号光和参照光的方法被称为同轴方法。

在同轴方法中，进一步通过将相位掩模置于由于SLM执行的空间光强度调制而获得的光的实像平面上来执行相位调制(例如，见第2006-107663号日本未审查专利申请公开)。

对信号光和参照光都执行使用相位掩模的相位调制。相位调制的目的是在将数据记录在全息记录介质上时实现多路复用，如在第2006-107663号日本未审查专利申请公开中所披露的技术。更具体地，可以通过利用具有与在记录中所使用的相位结构相同的相位结构的参照光照射全息记录介质，来仅读取使用具有特定相位结构的参照光记录的信号光(数据)。因此，如果以使用具有不同相位结构的参照光的多路复用方式分别记录多个数据，则可以通过利用具有与在记录数据中所使用的相位结构相同的相位结构的参照光照射全息记录介质来选择性地读取多个数据中想要的数据。

对信号光执行的相位调制是为了提高信号光和参照光之间的干涉效率并扩展信号光的频谱以抑制DC分量，并因此增大记录密度。

对于为了上述目的而应用于信号光的相位调制模式，例如，使用了二进制随机模式。更具体地，例如，在相位调制模式中，设定随机选择的一半像素以提供相移π，并且设定剩余的一半像素以不提供相移(相移＝0)。

如上所述，两个电平的随机模式的使用能提高参照光和信号光之间的干涉效率。此外，两个电平的随机模式使频谱在傅立叶平面(介质上的图像)上的均匀地扩展，这能够减少信号光中所包括的DC分量。

下面参考图28至图30来更详细地描述通过使用相位掩掩模实现的DC分量的抑制。

图28A示出了包括随机值(在图的上部中)及其频率特性(在图的下部中)的记录数据。在图28B中，在图的上部中示出了在图28A所示的待记录的数据的中心部分，并且在图的下部中示出了其频率特性。

应该注意，虽然为了图示方便，在图中所示的待记录的数据具有正方形的形状，但是，携带待记录的数据的实际信号光在横截面上基本上是圆形的。这对于诸如图29和图30的其它图也是一样的。

在图28A和图28B各图的上部所示的数据中，白色区域具有比特值“1”，以及黑色区域具有比特值“0”。在图28A和图28B各图的下部中，表示频率特性的频谱分布由灰度级表示。

图29A、图29B、图30A和图30B示出了通过SLM根据图28A和图28B中所示的待记录的数据执行的调制而获得的图像(SLM页面图像)，并且还示出了该图像的频率特性。更具体地，图29A示出了在没有使用相位掩模的情况下产生的整个SLM页面图像(在图的上部中)及其频率特性(在图的下部中)，以及图29B示出了图29A所示的图像的中心部分和频率特性。在图29A和图29B的上部中，白色区域具有值“1”，以及灰色区域具有值“0”。