[发明专利]擦除光盘中数据的方法和装置

说明书

技术领域

本发明涉及光存储技术，特别涉及擦除可重写光盘中数据的方法和装置。

背景技术

可擦除重写光盘主要为相变光盘(Phase Change Disk)。相变光盘的写入 原理是通过光盘记录层材料的相变实现。常温下，光盘记录层材料的原子规 则排列。如果光盘记录层材料受热达到熔点，其原子排列状态将变的不规则。 此时若使记录层材料快速冷却，其原子便不能恢复规则排列，而是维持高温 时的不规则排列；若将记录层材料慢慢冷却，其原子有足够时间做规则排列。

基于上述相变原理，若以高功率脉冲激光照射光盘记录层，并使其温度 在瞬间急速升降，则被照射位置的记录层材料形成不规则排列，即为数据写 入过程，该激光功率称为写入功率。若以低功率激光脉冲照射光盘记录层， 其温度变化在熔点以下且持续较长时间，被照射位置的记最层材料的原子变 成规则排列，此过程为数据擦除过程，该激光功率即为擦除功率。

请参阅图1，其为通常的擦除功率的确定方法示意图，光盘10从圆心100 向外被分为多个区域，包括功率校正区(PCA，Power Calibration Area)102、 节目存储区(PMA，Program Memory Area)104、导入区(Lead In)106、资料 区(Data Area)108和导出区(Lead Out)120。通常的擦除功率确定方法为： 首先通过光学读取头20在光盘10的功率校正区102以预设写入功率刻录测 试数据，然后通过多种预设擦除功率擦除测试数据，并根据检测擦除后的效 果比较得出最佳擦除功率，最后以此最佳擦除功率擦除整张光盘上的数据。 然而，这样得出来的最佳擦除功率只是针对其预设写入功率对应的最佳擦除 功率，该预设写入功率与该光盘上数据的实际写入功率必然有所差异，导致 以此方法得到最佳擦除功率与真正需要的最佳擦除功率存在差异，影响擦除 效果，从而影响后续的刻录品质。而且，受限于光盘的品质，光盘不同区域 的材料特性也有所不同，利用统一的擦除功率进行擦除也将影响擦除效果， 从而影响后续的刻录品质。

发明内容

鉴于此，有必要提供一种针对光盘实际特性进行数据擦除的方法。

还有必要提供一种针对光盘实际特性进行数据擦除的装置。

一种擦除光盘中数据的方法，该光盘的资料区沿光盘径向被划分为多个 部分，该方法包括如下步骤：

在该光盘资料区的每个部分采用多个预设擦除功率进行擦除测试；

检测每个部分上被擦除区域内反射率，得到每个部分与所述多个预设擦 除功率对应的多个反射率；

比较所述多个反射率，求得该光盘的资料区各个部分中的最小反射率；

确定每个部分中最小反射率对应的预设擦除功率为该部分的最佳擦除功 率；

分别利用资料区的各部分对应的最佳擦除功率擦除资料区的各部分内的 数据。

一种擦除光盘中数据的装置，包括光学读取头和激光控制器，所述光学 读取头用于发射激光光束到所述光盘上；所述激光控制器用于控制所述光学 读取头所发射激光光束的功率。所述擦除光盘中数据的装置还包括：

存储器，存储有预设擦除参数，包括多个预设擦除功率信息以及多个位 置信息，该多个位置信息分别对应所述光盘资料区沿光盘径向分布的多个部 分；

测试单元，用于根据存储器中的预设擦除参数产生测试控制信号，所述 控制信号内容包括：根据该多个位置信息控制光学读取头分别在光盘资料区 的各个部分进行擦除测试；根据多个预设擦除功率信息及所述激光控制器控 制光学读取头在光盘的各个部分采用多个擦除功率进行擦除测试；

分析单元，用于根据该多个位置信息获得光盘资料区的各个部分上与多 个预设擦除功率对应的多个反射率，并确定各个部分中最小反射率对应的预 设擦除功率为与资料区各个部分对应的最佳擦除功率；

擦除单元，用于利用光盘资料区各个部分对应的最佳擦除功率擦除光盘 资料区上对应部分的数据。