[发明专利]镜头模组无效
申请号: | 200710201192.2 | 申请日: | 2007-07-27 |
公开(公告)号: | CN101354466A | 公开(公告)日: | 2009-01-28 |
发明(设计)人: | 林孟东 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
主分类号: | G02B7/02 | 分类号: | G02B7/02;G12B17/02;H05K9/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518109广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 镜头 模组 | ||
技术领域
本发明涉及一种镜头模组,尤其涉及一种具有良好抗电磁波干扰能力的镜头模组。
背景技术
照相功能已经成为各种便携式电子产品例如手机及个人数字助理(PDA)不可或缺的主要功能之一。照相模组通常包括至少一个镜头模组,以及一个与镜头模组相对设置的影像感测器元件。镜头模组通常包括镜头座、设置于镜头座的镜筒、以及沿光轴方向依次固定于镜筒内的透镜组、间隔环和滤光片等光学元件。而影像感测器元件通常封装于镜头座内,或是直接封装于所述镜筒底部,与镜头模组配合用于成像。
但是,现有的镜头模组的镜头座和镜筒的材料以塑料如PC/ABS(聚丙烯/丙烯腈-丁二烯-苯乙烯)工程塑料、聚四氟乙烯等居多,通常不具备良好的抗电磁波干扰能力,影像感测器元件容易受到外界电磁波的干扰而产生噪声,所述电磁波的干扰可以通过如ZhenguangLiang等人在2006年10月SPIE系统检测仪表与控制技术第六次国际研讨会(SixthInternational Symposium on Instrumentation and Control Technology)上发表的论文Radiated electromagnetic interference(EMI)measuring system中揭示的电磁干扰测量系统测得。所述电磁波的干扰导致无法获得清晰的图像,造成成像质量不佳。当成像解析度较高时,外界电磁波对影像感测器元件干扰所造成的对成像质量的影响就更为明显。
发明内容
因此,有必要提供一种具有良好抗电磁波干扰能力的镜头模组,以有效提高成像的质量。
一种镜头模组,包括镜头座和固定于镜头座的镜筒,所述镜头座外表面套设有一电磁屏蔽套,所述电磁屏蔽套的形状与镜头座的外表面相匹配,所述电磁屏蔽套的材料为金属。
与现有技术相比,所述镜头模组在镜头座的外表面套设有电磁屏蔽套,所述电磁屏蔽套由金属材料形成,具有良好的抗电磁波干扰能力,可有效屏蔽外界电磁波,大大降低电磁波对与镜头模组相配合的影像感测器元件的干扰,从而提高成像的质量。
附图说明
图1是本发明实施例提供的镜头模组的剖视图。
图2是本发明实施例提供的镜头模组的部分分解示意图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明实施例提供的镜头模组10作进一步说明。
请参阅图1和图2,实施例提供的镜头模组10,其包括镜筒110、滤光片120、间隔环130、透镜组140及镜头座150。
所述镜筒110呈中空圆筒体,用于容纳滤光片120、间隔环130以及透镜组140。所述镜筒110包括第一端部111和相对的第二端部112。所述第一端部111开设有入光孔113,光线可由所述入光孔113进入镜头模组10,并依次透过滤光片120和透镜模组140。所述镜筒110的外壁可设有螺纹,其用于与镜头座150所设的螺纹相配合,使得镜筒110可固定于镜头座150。当然,镜筒110也可通过其它方式固定于镜头座150。
由镜筒110的第一端部111至第二端部112,滤光片120、间隔环130以及透镜组140沿光轴方向依次固定于镜筒110内。
所述镜头座150具有容置腔151,用于容纳固定镜筒110和影像感测器元件20。所述镜头座150具有第一基座部152和相对的第二基座部153。所述第一基座部152内壁设有螺纹,其与镜筒110的第二端部112外壁的螺纹相配合,用于将镜筒110固定于镜头座150。所述第二基座部153可用于与其它元件或装置相连。本实施例中,所述第二基座部153固定于封装有影像感测器元件20的电路板22上,从而使得影像感测器元件20设置于所述第二基座部153。所述影像感测器元件20将由入光孔113进入镜头模组10,并依次透过滤光片120和透镜模组140的光信号转换成电信号,从而获取数字图像信号。所述影像感测器元件20可为电荷耦合元件(Charge Coupled Device,CCD)或者互补金属氧化物半导体元件(Complementary MetalOxide Semiconductor,CMOS)。
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