[发明专利]影像最优匹配系统及方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种影像最优匹配系统及方法。

背景技术

目前制造业普遍存在质量管理意识，而质量的管理愈来愈依赖测量仪器，特别是无法由肉眼所检视的精密产品，例如电路板排线、连接器端子排列的整齐度、半导体封装的插孔、液晶屏幕、精密铸模等。

随着竞争的日益激烈，测量仪器也从传统的卡尺、显微镜、投影仪到三维接触式测量仪再到非接触式测量仪器，并与计算机结合，对测量结果进行分析运算。

工厂在对生产的产品进行测量时，通常利用影像测量仪器摄取产品的影像，再传输到计算机中测量所述影像以获取该产品各个部位的实际尺寸，然后与其标准尺寸相对比，判断产品的质量是否合格。

其中，在计算机中测量所述影像时，经常需要人工定位测量目标(即人工选取所述影像上的某一部分如点、线等)，而后对所述测量目标进行测量。对于大批量影像的测量，每一个影像都需要人工定位测量目标。如此，既耗时，又费力，效率极低，还容易出错。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提出一种影像最优匹配系统，其可快速准确对影像进行最优匹配，以迅速定位测量目标。

鉴于以上内容，还有必要提出一种影像最优匹配方法，其可快速准确对影像进行最优匹配，以迅速定位测量目标。

一种影像最优匹配系统，包括计算机及影像量测机台，其中，所述计算机包括影像撷取卡，该影像撷取卡用于接收所述影像量测机台获取的待测影像，所述计算机还包括：影像最优匹配程序，用于对上述传送到影像撷取卡的待测影像进行最优匹配，该影像最优匹配程序包括：选取模块，用于根据测量需要从待测影像中选取模板影像和目标影像，及设定参数；设定模块，用于对上述模板影像和目标影像设定采样间隔；采样模块，用于按照设定的采样间隔分别对所述模板影像和目标影像进行采样，以得到模板采样影像和目标采样影像；预匹配模块，用于将所述模板采样影像和目标采样影像进行匹配；及最优匹配模块，用于当所述模板采样影像与所述目标采样影像匹配成功时，将所述模板影像和目标影像进行最优匹配。

一种影像最优匹配方法，该方法包括以下步骤：(a)根据测量需要从待测影像中选取模板影像和目标影像；(b)对上述模板影像和目标影像设定采样间隔；(c)按照设定的采样间隔分别对所述模板影像和目标影像进行采样，以得到模板采样影像和目标采样影像；(d)将所述模板采样影像和目标采样影像进行匹配；(e)若所述模板采样影像与所述目标采样影像匹配成功，则将所述模板影像和目标影像进行最优匹配。

所述影像最优匹配系统及方法，能够快速准确地对影像进行最优匹配。因而，可以迅速定位测量目标，提高工作效率，同时能够节省人工手动操作的工作量，减少人为错误。

附图说明

图1是本发明影像最优匹配系统较佳实施例的硬件架构图。

图2是图1中影像最优匹配程序的功能模块图。

图3是本发明影像最优匹配方法较佳实施例的作业流程图。

图4是本发明将模板采样影像和目标采样影像进行匹配的子流程图。

图5是本发明将模板影像和目标影像进行最优匹配的子流程图。

图6是本发明目标采样影像中偏移点为原点的子影像的示意图。

具体实施方式

参阅图1所示，是本发明影像最优匹配系统11较佳实施例的硬件架构图。该影像最优匹配系统11安装并运行于计算机1中，该计算机1与影像量测机台6相连接，该影像量测机台6上放置有待测产品5。

所述影像量测机台6的Z轴上还安装有用于采集连续影像的CCD(Charged Coupled Device，电荷耦合装置)7，该CCD7装有工业光学镜头8，CCD7搭配所述工业光学镜头8可以使待测产品5成像。

所述计算机1可以是IBM架构的个人计算机(IBM PersonalComputer，IBM PC)，也可以是Apple公司的Mac PC，还可以是任意其它适用的计算机。该计算机1内装有影像撷取卡10。

其中，所述CCD7通过影像数据线与所述影像撷取卡10相连，将从影像量测机台6获取的待测产品5的影像传送到影像撷取卡10，并显示于计算机1的显示屏幕(未示出)上，所述影像最优匹配系统11主要用于对所述传送到影像撷取卡10的批量待测产品5的批量影像(即待测影像)进行最优匹配计算。

参阅图2所示，是图1中影像最优匹配系统11的功能模块图。本发明所称的各模块是所述影像最优匹配系统11中完成特定功能的各个程序段，比程序本身更适合于描述软件在计算机中的执行过程，因此本发明对软件的描述都以模块描述。