[发明专利]相机模块污点测试系统及方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种相机模块污点测试系统及方法。

背景技术

数位影像科技的应用日渐普及，越来越多的电子产品可以通过安装相机模块而具备拍摄物体影像的功能，例如：数码相机、计算机、手机、影像量测机台等电子器材。该相机模块通常包括图像传感器(Sensor)、镜头(Lens)及镜座(Holder)等元件或装置。随着电子产品的市场需求增长迅速，其配套的相机模块的生产需求也不断增长。为了提高和保证产品质量，对产品实施检验是必不可少的，从而保证产品质量形成过程的稳定性及其产出产品的一致性。同时，日渐增多且急迫的检验需求要求企业能够快速、准确地实施产品的检验。

早期生产厂商对于相机模块出厂前的检验，通常是利用人工对相机模块所拍摄的影像进行分辨，从而确定该影像是否存在污点，如此既费时，又增长生产周期及增加生产成本，并且基于人工确定的信息，经常包含有人的误差的影响，不能保证出厂产品质量的一致性及准确性。

发明内容

鉴于以上内容，有必要提供一种相机模块污点测试系统，其可以通过对输出影像的各类数据进行分析、比较，从而判断相机模块的品质。

此外，还有必要提供一种相机模块污点测试方法，其可以通过对输出影像的各类数据进行分析、比较，从而判断相机模块的品质。

一种相机模块污点测试系统，该系统包括：影像获取模块，用于从相机模块处获取影像；影像区域切割模块，用于将所获取的影像切割成多个测试影像区域，并划分每一个测试影像区域对应的参考影像区域；计算模块，用于选择测试影像区域及确定对应的参考影像区域，并计算该测试影像区域及参考影像区域的灰度平均值；及浓度比较模块，用于预设一个污点浓度的规范值，并对所得的测试影像区域及参考影像区域的灰度平均值进行比较以计算该测试影像区域的污点浓度，还用于将该污点浓度与该规范值进行比较从而判断该影像是否存在明显污点以及确定所述的相机模块是否为合格产品。

一种相机模块污点测试方法，该方法包括如下步骤：从相机模块处获取影像；将所获取的影像切割成多个测试影像区域，并划分每一个测试影像区域对应的参考影像区域；选择一个测试影像区域及确定其对应的参考影像区域，并计算该测试影像区域及参考影像区域的灰度平均值；预设一个污点浓度的规范值；对所得的测试影像区域及参考影像区域的灰度平均值进行比较以计算该测试影像区域的污点浓度，并判断该污点浓度是否超过该规范值从而判断该影像是否存在明显污点；若该影像存在明显污点，则确定所述的相机模块为不合格产品；及若该影像不存在明显污点，则确定所述的相机模块为合格产品。

相较于现有技术，所述的相机模块污点测试系统及方法，其可以通过对输出影像的各类数据进行分析、比较，从而判断相机模块是否存在污点。利用该系统及方法，可以有效避免人工对影像进行肉眼辨别的误差，并提高测试效率及节省测试成本。

附图说明

图1是本发明相机模块污点测试系统的较佳实施例的硬件架构图。

图2是本发明相机模块污点测试系统的功能模块图。

图3是本发明相机模块污点测试方法的较佳实施例的流程图。

图4是本发明相机模块污点测试方法的影像区域切割示意图。

图5是本发明相机模块污点测试方法的数据输出示意图。

具体实施方式

如图1所示，是本发明相机模块污点测试系统较佳实施方式的硬件架构图。该相机模块污点测试系统(下文称“本系统”)建构在多个计算机2中。所述的计算机2通过影像数据线4与一个相机模块1相连接以获取影像，并在对影像进行相应的测试后，利用连接5将测试结果输出至数据库3中进行存储。所述的连接5是一种数据库连接，如开放式数据库连接(OpenDatabase Connectivity，ODBC)，或者Java数据库连接(Java Database Connectivity，JDBC)。

所述的相机模块1通常包括图像传感器10、镜头12及镜座14，也可包括其他元件或装置(图中未示出)。该图像传感器10可以是CCD(Charge Coupled Device，电荷藕合器件)，或者是CMOS(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor Transistor，互补型金属氧化物半导体)。该相机模块1可以组装至计算机2、手机(未示出)或者其他装置中进行拍摄。

所述的数据库3用于存储各类数据，包括从相机模块1获取的影像，对影像测试后的结果等。该数据库3可独立于计算机2，也可位于计算机2内，储存在计算机2的硬盘(未示出)上