[发明专利]镜片光反射率检测装置及镜片组装设备

说明书

技术领域

本发明涉及一种镜片光反射率检测装置，以及涉及一种集成有该镜片光反射率检测装置的镜片组装设备。

背景技术

镜片，例如用在各式眼镜中，用在摄像镜头中等，是生产和生活常见的光学元器件。这类镜片中，对光、或是对特定波段的光的反射率往往是衡量其光学性能的一个重要参数。

一种典型的镜片光反射率检测方法采用如下方式对待测镜片进行检测：在待测镜片一表面上方设置一光源及一光电倍增管(Photo Multiplier Tube，简称PMT)，当该光源发出的光束投射至该镜片表面上时，部分光会自该镜片表面反射且被该光电倍增管接收，然后使用一比较器比较投射至该镜片上的光信号强度与自该镜片反射的光信号强度，从而得出该镜片的光反射率。然而，光电倍增管的侦检速度极慢，一次只能采集到一个像素，如此对于较大的镜片，此种检测速率远远无法满足现代工业生产的要求。

发明内容

有鉴于此，提供一种检测速度较快的镜片光反射率检测装置，以及集成有该镜片光反射率检测装置的镜片组装设备实为必要。

一种镜片光反射率检测装置，其包括一积分球、一光源装置、一移动平台、一侦检器以及一处理器。所述积分球具有一样品口及一出光口，所述样品口及出光口分别用于放置待测镜片及出射所述待测镜片反射的光线；所述光源装置用于发出一定波长范围的光束，该光束在所述积分球内投射至所述待测镜片表面；所述移动平台用于使所述待测镜片与所述积分球相对移动；所述侦检器包括一感光元件以用于侦检自所述积分球出射的光线并转换为一待比较信号，该感光元件选自电荷偶合装置及互补金属氧化物半导体之一；所述处理器用于比较投射至所述待测镜片的光束的信号强度与所述侦检器侦检到的待比较信号强度，以得出所述待测镜片的光反射率。

一种镜片组装设备，其集成有一上述的镜片光反射率检测装置。

相对于现有技术，所述镜片光反射率检测装置使用一移动平台使待测镜片与积分球相对移动，如此可连续地对待测镜片进行检测，另外，所述侦检器可以实现快速地侦检信号，如此整个镜片光反射率检测装置可以成为自动的快速检测装置。所述镜片组装设备可以使镜片光反射率检测与镜片组装先后连续进行。

附图说明

图1是本发明的实施例提供的镜片光反射率检测装置示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明提供的镜片光反射率检测装置及镜片组装设备作进一步详细说明

请参阅图1，本发明的实施例提供的镜片光反射率检测装置100，用于对待测镜片200的光反射率进行检测，其包括一积分球10，一光源装置20，一侦检器30，一处理器40，一承载所述待测镜片200的第一移动平台400，以及一承载积分球10的第二移动平台500，其中，所述光源装置20设置于所述积分球10内，所述侦检器30与所述积分球10之间通过一具有一定长度的光传导元件50例如光纤连接，所述侦检器30与所述处理器40之间电性连接。

所述积分球10为中空，内表面呈圆球形且内壁设置有反射涂层101，其内径可以在50~60毫米之间。所述积分球10开设有一样品口11及一出光口12，所述样品口11用于放置待测镜片200，其直径可以在10~12毫米之间；所述出光口12与所述光传导元件50连接，用于出射待测镜片200反射的光线，其直径也可以在10~12毫米之间。

所述光源装置20的光源可以为卤素灯、白炽灯、激光二极管或发光二极管，且其功率可以为150瓦(W)。优选地，所述光源装置20可以发出一定波长范围的光束，例如在200~1100纳米(nm)之间。所述光源装置20在检测过程中可以置于所述积分球10内，通过所述积分球10内壁反射而投射至待测镜片200上，或直接投射至该待测镜片200上。所述光源装置20投射至待测镜片200上的入射角优选地控制在8度以内。

优选地，还可以包括一全反射(反射率为100％)的标准片300，所述标准片300用于在检测待测镜片200之前，全反射所述光源装置20发出的光束至所述侦检器30上，以得出将投射至该待测镜片200上的光束的信号强度，所述侦检器30可以将此信号强度输出作为一参考信号。