[发明专利]多通道光谱量测装置与相位差解析方法有效
| 申请号： | 200710188707.X | 申请日： | 2007-11-15 |
| 公开（公告）号： | CN101435928A | 公开（公告）日： | 2009-05-20 |
| 发明（设计）人： | 刘志祥;庄凯评;林友崧 | 申请（专利权）人： | 财团法人工业技术研究院 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G01B11/06 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 周长兴 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 通道 光谱 装置 相位差 解析 方法 | ||
1.一种相位差解析方法，其包括有下列步骤：
使一偏振光束的P波与S波偏振分光量相同；
在未放入待测物的情况下改变该偏振光束的偏振角度，以量测其P波与S波偏振分光量；以及
根据量测到的P波与S波偏振分光量决定该光束能量损失校正参数，该参数为(S1P/S1S)与(S1S/S1P)，其中S1S表示S波偏振光束的光谱强度，S1P表示P波偏振光束的光谱强度；
调制该偏振光束以形成一第一偏振光；
使第一偏振光的偏振角度与待测物的光轴相差一角度，并调整通过一待测物的该第一偏振光的偏振角度以形成一第二偏振光，并侦测该第二偏振光的P波与S波偏振分光量，对于该第二偏振光，P波偏振光的穿透光谱强度为S2P，S波偏振光的穿透光谱强度为S2S；以及
根据该第二偏振光的P波与S波偏振分光量以及能量损失校正参数计算P波和S波归一化光谱强度分布，具体为：
其中λ为光谱的波长；
根据该归一化光谱强度分布，求得一相位差分布。
2.如权利要求1所述的相位差解析方法，其中，该偏振光束选择为一线性偏振光、一圆偏振光其中之一。
3.如权利要求1所述的相位差解析方法，其中，第一偏振光的偏振角度与待测物的光轴相差角度为45度。
4.如权利要求1所述的相位差解析方法，其中，求该相位差分布的方式为穿透光谱曲线拟合求解法。
5.如权利要求1所述的相位差解析方法，其中，求该相位差分布的方式为柯西色散拟合求解法。
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