[发明专利]光学拾取装置

说明书

技术领域

本发明涉及光学拾取装置，尤其涉及在诸如光盘的信息记录介质上至少光学地进行信息记录或再现的光学拾取装置。

背景技术

图5是常规光学拾取装置的示意配置图。光学拾取装置具有第一光源501、第二光源502、物镜504、光学监视器505和分光元件507。分光元件507具有波长选择膜506。

第一光源501发射第一激光束，且第二光源502发射波长与第一激光束不同第二激光束。物镜504将第一激光束和第二激光束聚焦在光盘503的数据记录表面。光学监视器505检测第一激光束和第二激光束的光量。波长选择膜506将从第一光源501发射的第一激光束反射在物镜504方向上并且允许从第二光源502发射的第二激光束通过，从而使光束入射到物镜504上。

来自第一光源501的光束和来自第二光源502的光束用于在不同类型的光盘上记录和再现。光学监视器505检测从第一光源501发射并透过分光元件507的波长选择膜506的光束，并且另一方面，检测从第二光源502发射并由分光元件507的波长选择膜506反射的光束。因此，对于在光盘503上光学记录信息必不可少的激光束光量得到检测和控制。

在用于记录的光学拾取中，出射激光束的光量由光学监视器505检测并控制在最佳记录功率。在图5的配置中，可用于光学监视器505的光束的光量被限制得较小，因为有必要使用大部分激光束来在光盘503上记录。更具体地，在从第一光源501到光学监视器505的光束的光路上波长选择膜506的透光率设置在约7％的量级上，且在从第二光源502到光学监视器505的光束的光路上波长选择膜506的反射率也设置在7％的量级上。

发明内容

基于如上所述的背景考虑，发明人发现以下技术问题。

激光波长相对于温度的变化在约0.2至0.3nm/℃的量级上。已经发现激光波长变化的这种温度依赖使得在从波长选择膜到光学监视器505的光量相对于波长变化稳定性较差的条件下控制最佳记录功率是不可能的。

通过以上事实的逆运算，在光学监视器505所需的规范中，相对于10nm的波长变化，光学监视器505上光量的变化必须不超过0.56％。然而，在量产的前提下，已经发现该规范的实现涉及到分光元件507价格增加，并不实际。

还已经发现使来自第一光源501和第二光源502的约8％的光束用于光学监视器505所使用的波长选择膜506降低了到光盘503的发射效率，因此导致诸如激光器驱动电流上升和激光器发热增加的各种问题。

在其中光束中至少任一个透过波长选择膜或被波长选择膜反射的JP2004-103 176 A、JP 2003-132581 A和JP 2000-33 1365 A描述的技术中，已经发现由温度变化引起的波长变化影响来自波长选择膜的激光束的光量，如上所述。

本发明的目的是提供即使激光波长变化也能够稳定、正确地监视出射激光束光量的光学拾取装置，其中不需要使用不可能实际制造的波长选择膜且制造分光元件的成本较低。

为了实现该目的，本发明的光学拾取装置包括：

发射第一激光束的第一光源，

发射波长与第一激光束波长不同的第二激光束的第二光源，

分光元件，具有用于反射从第一光源发射的第一激光束以及允许从第二光源发射的第二激光束从其透过的波长选择膜、用于反射从第一光源发射并且未入射到波长选择膜上的第一激光束的第一反射部分、以及用于反射从第二光源发射并且未入射到波长选择膜上的第二激光束的第二反射部分，

用于将从第一光源发射并由波长选择膜反射的第一激光束聚焦在信息记录介质的记录表面上并且用于将从第二光源发射并透过波长选择膜的第二激光束聚焦在信息记录介质的记录表面上的物镜，以及

用于检测从第一光源发射并由第一反射部分反射的第一激光束光量并且用于检测从第二光源发射并由第二反射部分反射的第二激光束光量的光学监视器。

在一实施方式中，分光元件具有第一棱镜和第二棱镜，以及

其中波长选择膜一个表面的全部区域与第一棱镜接触而波长选择膜另一表面的全部区域与第二棱镜接触。

在一实施方式中，第一棱镜表面的一部分与第二棱镜接触。

在一实施方式中，分光元件具有多个棱镜，以及

其中多个棱镜具有的多个平坦表面中最靠近光学监视器光接收表面的平坦表面是光散射表面。

在一实施方式中，分光元件至少部分地定位在第一光源发射的第一激光束分散光中以及第二光源发射的第二激光束的分散光中。

在一实施方式中第一反射部分和第二反射部分的每一个都是电介质沉积反射膜或金属沉积反射膜。