[发明专利]缺陷检测系统和方法

说明书

技术领域

本发明有关于DVD-RAM，尤其是有关于一DVD-RAM光盘的缺陷管理，具体来说是关于一种缺陷检测系统和方法。

背景技术

对可复写式的光盘如DVD-RAM而言，如果一扇区(sector)读出的错误超过一定的标准，则该扇区被视为有缺陷(defective)扇区，而数据就不再写入该扇区。在实际上举例来说，缺陷扇区的地址可以被纪录在一缺陷管理表中，而光驱就据此避免对该扇区进行存取。

图1为现有DVD-RAM规格中关于一扇区数据区块的架构图。一扇区包含2064位，排列成12列，每列172位。第一列最前端有三个字段，数据识别码(Data ID)，识别码错误检测(IED)和保留位，紧接着160位的数据。数据识别码储存每一扇区独有的编号。接下来十列各172位皆为数据。最后一列包含168位的数据以及4位的错误检测码(EDC)。因此在图1中可供使用者储存数据的位数有2048个，编号从0到2047。

图2为现有DVD-RAM规格中容错数据区块的架构图。连续16个扰频编码区块(scrambled block)组成一容错数据区块200，包含192列，每列172位。一扰频编码区块经由一扰频电路将图1的扇区数据区块编码而成。纵向来看，在每一纵列是192位，底下附加了一段16位的外校验码PO(ParityOuter)。而横向来看，每一横列后面附加10位的内校验码PI(Parity Inner)。因此一个完整的容错数据区块200是一个208乘以182的区块。内校验码PI和外校验码PO使用Reed-Solomon算法产生，为每一横列和纵列提供了基本的容错能力。在容错数据区块200中，每一横列又称为一数据帧(Frame)，是一种基本的数据单位。

传统的缺陷管理方法是利用DVD-RAM中的保留区域来储存主缺陷表PDL(primary defect list)和副缺陷表SDL(secondary defect list)。主缺陷表PDL主要纪录有缺陷的扇区，而副缺陷表SDL纪录有缺陷的容错数据区块(ECCblocks)。如果一扇区中有超过一定数量的横列发生内校验码PI错误，则该扇区被视为有缺陷。同样的，在一容错数据区块中如果有超过一定数量的扇区是有缺陷的，则该容错数据区块整个被视为有缺陷。此外，一容错数据区块中如果有超过一定数量的纵列发生外校验码PO错误，该容错数据区块也被视为有缺陷。更确切的说，每一扇区都具备一独特的实体识别码(PID)。当一扇区有缺陷时，它的实体识别码PID就被写入主缺陷表PDL中。一容错数据区块的实体识别码PID则是以其中第一扇区的实体识别码PID为代表值。当一容错数据区块发生缺陷时，它的实体识别码PID就被纪录在副缺陷表SDL中，同时一备用容错数据区块的实体识别码PID也被纪录在其后，供替换使用。该实体识别码PID亦具备容错能力，由分别储存在扇区中不同位置的PID1，PID2，PID3，PID4(未图示)所提供。如果一个扇区中有超过三个实体识别码PID读不出来，则称之为档头错误，这样的扇区也被视为有缺陷的。

在DVD-RAM盘片制造时，主缺陷表PDL和副缺陷表SDL也同时被建立。而盘片的表面随着使用可能产生新的缺陷，所以在重新格式化或写入DVD-RAM盘片时，需要一个校验的机制来更新主缺陷表PDL和副缺陷表SDL。

发明内容

本发明提供一种缺陷检测系统和方法，用于可复写光盘。在该系统中，一解调器读取一光盘上多个扇区的内容与内校验码(PI)。一扇区检测器解码所述的这些内校验码PI以获得所述的这些扇区的缺陷信息。一存储器储存由所述的这些扇区的内容所组成的一容错数据区块，并储存所述的这些扇区的缺陷信息，其中该容错数据区块包含一外校验码(PO)。一容错数据区块检测器解码该外校验码，并根据所述的这些扇区的缺陷信息和该外校验码来判断该容错数据区块是否有缺陷。一处理器控制该内校验码和外校验码的解码程序。

该扇区检测器包含下列元件。一内校验码解码器根据内校验码校验扇区的内容。一档头(header)解码器从扇区中解出档头以判断其正确性。一扇区确认器统计该内校验码解码器和档头解码器的检查结果，统计后和一第一临界值比较，以判定扇区是否有缺陷；其中该扇区检测器将检查过的扇区的内容和缺陷信息储存至该存储器中。

每一扇区包含多个数据帧，各对应一内校验码。该内校验码解码器根据每一内校验码判断对应数据帧的正确性，并统计每一扇区中有缺陷的数据帧数量。如果一扇区中有缺陷的数据帧数量超过该第一临界值，则判定该扇区为有缺陷。该第一临界值为可程序化的值，由软件设定。