[发明专利]光信息记录装置和光信息再现装置无效

专利信息
申请号: 200710181426.1 申请日: 2007-10-25
公开(公告)号: CN101169944A 公开(公告)日: 2008-04-30
发明(设计)人: 长岛贤治;堀边隆介;平野敦也 申请(专利权)人: 船井电机株式会社
主分类号: G11B7/0065 分类号: G11B7/0065;G11B7/125;G03H1/10
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人: 王玉双
地址: 日本大阪*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 信息 记录 装置 再现
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种光信息记录装置和光信息再现装置,以及更具体地,本发明涉及一种通过使用由信息光和参考光的干涉而获得的干涉条纹在记录介质中实施全息信息记录的光信息记录装置以及一种通过使用干涉条纹使参考光衍射而在记录介质上实施信息再现的光信息再现装置。通过干涉条纹将信息全息地记录在介质中。

背景技术

在记录介质中实施全息信息记录的光信息记录装置中,必须叠加记录介质内的参考光和信息光以产生干涉条纹。为此目的,必须从单光束中获得信息光和参考光,然而,在不使特性恶化的情况下,使用简单的结构很难对光束进行分离和组合。因此,获得具有高对比度的干涉条纹是不可能的。因此,为了解决这个问题,已经提出了各种光信息记录装置。例如,在JP-A-2006-039181和WO2004/102542中提出了一种结构,在该结构中,利用空间光调制器通过使一部分光束衍射而将光束分离为两束;以及在JP-A-2005-292765中提出了一种结构,在该结构中,利用空间光调制器和设置在该空间光调制器外侧的扩散板而将光束分离为两束。

然而,使用在JP-A-2006-039181、WO2004/102542和JP-A-2005-292765中提出的结构很难产生具有均匀的光强度的光束,从而产生光量损失的问题。另外,在实施记录时,因为干涉条纹的对比度低,因此不可能获得优良的记录特性;以及在实施再现时,因为杂散光经常出现以及光线入射光接收部件,因此不可能获得质量好的信号。

发明内容

考虑到上面所述情形,提出了本发明。本发明的目的是提供一种光信息记录装置,所述光信息记录装置通过简单的结构即可具有优良记录特性和小的光量损耗,以及提供一种光信息再现装置,使用该光信息再现装置通过具有简单结构的装置即可获得质量良好的信号。

为了达到上述目的,依据本发明一个方案的光信息记录装置使用通过信息光和参考光的干涉而获得的干涉条纹,将信息全息记录在记录介质中,所述装置包括:激光光源;空间光调制器,空间光调制器,在空间上将由所述激光光源发出的激光光束的中心部分调制为信息光;反射镜,反射由所述激光光源发出的激光光束的外周部分,使其成为用于记录的参考光;物镜,使用所述信息光和所述参考光照射所述记录介质;和全息图案,设置在所述反射镜和所述物镜之间的光路上。该装置的特征在于所述全息图案使所述参考光发生衍射,以使所述参考光在所述信息光的光会聚点附近被叠加到所述信息光上,以及所述参考光被会聚在与所述信息光的光会聚点不同的点处,所述参考光从所述物镜发射至所述记录介质侧,所述信息光从所述物镜发射至所述记录介质侧。

依据本发明另一个方面的光信息再现装置使用干涉条纹对参考光的衍射来实施对信息的再现,所述装置包括:激光光源;反射镜,反射由所述激光光源发射的激光光束的外周部分,使其成为用于再现的参考光;物镜,使用所述参考光照射所述记录介质,所述记录介质具有使用干涉条纹被全息地记录在记录介质中的信息;和全息图案,设置在所述反射镜和所述物镜之间光路上。该装置的特征在于所述全息图案使前进路径中的参考光发生衍射,以使返回路径中从物镜发射的参考光离开所述前进路径中的参考光的光路。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于船井电机株式会社,未经船井电机株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200710181426.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top