[发明专利]光学拾取装置和光学再现方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种光学拾取装置和光学再现方法。

背景技术

光学记录系统具有各种优点，例如，可以以非接触方式对光学记录介质进行记录和再现，以及可以执行随机访问。因此，光学记录系统在工业世界和一般公众中被广泛使用。

光学记录系统中，有只读和可重复写入的两种光学记录介质，以及用于在这种光学记录介质上执行记录和再现的光学拾取装置被广泛且通常使用。此外，相比于一般的磁记录介质，该光学记录介质具有非常高的记录密度，而为了进一步增加记录密度，用于记录和再现的激光束点的直径被减小，进而光学记录介质中相邻光轨之间的距离以及相邻凹陷之间的距离被缩短。

在目前作为典型光学记录介质实际使用的只读DVD-ROM中，在12cm直径的盘上可以实现用于单面单层的4.7G比特、用于单面双层的8.5G比特、用于双面单层的9.4G比特以及用于双面双层的17G比特的高密度记录。在可重复写入且可擦除的DVD-RAM中，可以实现用于单面单层的4.7G比特及用于双面单层的9.4G比特的高密度记录。如上所述，尽管光学记录介质的记录密度逐年增加，但是由于数据被记录在该光学记录介质的记录表面上，因此由于光衍射极限的约束而导致记录密度存在着实际限制。

因此，作为进一步增加光学记录介质的记录密度的方法，提出一种方法，在该方法中多值数据而不是二进制数据被记录在一个记录凹陷(recordingpit)中的方法，其实例被公开在JP-A-H11-238251中。

在JP-A-H11-238251所公开的发明中，将光学记录介质的记录层用作1/4波长板或1/2波长板，并且通过对应于入射至光学记录介质上的线性偏振光的偏振方向而旋转1/4波长板或1/2波长板的方向来进行多值记录。此外，在记录层用作1/4波长板情况中通过检测来自光学记录介质的再现光线的反射光线的偏振方向，或者在记录层用作1/2波长板的情况中通过检测来自光学记录介质的再现光线的透射光线的偏振方向，来再现记录在光学介质上的信息。通过检偏器(analyzer)的旋转以及检测器对光量的测量，实现对偏振方向的检测。

依据在JP-A-H11-238251中所公开的发明，由于能够通过旋转记录层的1/4波长板或1/2波长板的方向来记录多值，因此可以获得能够高密度记录的光学记录介质。此外，由于记录层的1/4波长板或1/2波长板的方向的动态范围如90度一样大，因此可以高S/N比(信噪比)对记录在光学记录介质上的信息进行再现。

然而，在JP-A-H11-238251中，在再现时，通过检偏器的旋转以及检测器对光量的测量，检测反射光或投射光的偏振方向。因此，存在再现速度降低的问题。

发明内容

考虑到上面问题，本发明的目的是提供一种光学拾取装置，该光学拾取装置在通过测量来自光学记录介质的多个偏振方向中的各个偏振方向的光线的光量来再现记录在光学记录介质上信息的情况下，可以以高S/N和高速度进行再现。此外，本发明的另一目的是提供一种光学再现方法，该光学再现方法在通过对来自光学记录介质在多个偏振方向中的各个中的光线的光量进行测量、再现记录在光学记录介质上信息的情况中可以以高S/N和高速度进行再现。

为了实现上面目的，依据本发明的方案，光学拾取装置包括检测单元，该检测单元从光学记录介质中接收光线并检测记录在该光学记录介质上的信息。并且该检测单元包括光学元件和光量测量单元，该光学元件同时从来自光学记录介质的光线中以分离状态分别提取具有不同偏振方向的多个特定光线，该光量测量单元同时对通过该光学元件提取的多个特定光线中的各个特定光线进行光量测量。

据此，为了再现记录在光学记录介质上的信息，在必需测量来自光学记录介质的光线在多个偏振方向的各个偏振方向上的光量的情况中，使用光学元件同时从来自光学记录介质的光线中以分离状态分别提取具有不同偏振方向的多个特定光线，以及该光量测量单元同时对通过该光学元件提取的多个特定光线中的各个特定光线进行光量测量。因此，与通过旋转上述检偏器从来自光学记录介质的光线中分别顺序地提取具有不同偏振方向的多个特定光线并且分别测量提取的光量的方法相比较，高速再现成为可能。此外，由于使用光量的比率，因此再现光的光量波动不会有影响。

在本发明中，在上述结构的光学拾取装置中，理想的是光学元件相对于多个特定光线中的各个特定光线从多个位置提取光线。

据此，由于相对于具有不同偏振方向的各个光线从多个位置提取光线，因此可以抑制由于盘的诸如裂缝之类所产生的影响。也就是，高S/N再现变得可能。