[发明专利]内部设有电磁屏蔽层的胶合板屏蔽效能测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种胶合板屏蔽效能同轴测试方法，尤其是一种电磁屏蔽层设置在内部且上下表面都绝缘的胶合板屏蔽效能同轴测试方法。

背景技术

随着电磁兼容技术的发展，各种新型的屏蔽材料被开发出来，从原来的纯金属材料发展为现在的金属丝纺织物、金属纤维填充塑料、镀膜塑料、镀膜玻璃以及叠层形式的复合材料等。屏蔽材料的性能指标一般用屏蔽效能表示，这一指标反映屏蔽材料屏蔽电磁波的能力。屏蔽效能通常用屏蔽室窗口法、球形偶极子天线法、同轴线法等测量方法测试得到，其中同轴线法依据SJ 20524-1995《材料的屏蔽效能测量方法》。同轴线法测量频段一般是100kHz～1.5GHz，这种方法测量数据准确，测量重复性好，通常在1.5GHz以下测量平面材料屏蔽效能多采用这一方法。

同轴线测试方法是利用图1所示的屏蔽材料同轴测试装置对胶合板屏蔽材料的远场电磁屏蔽性能进行测试，这种测试装置由两段同轴的内、外导体构成，内、外导体横截面均为圆形，两段同轴线的外导体通过螺纹结构连接，内导体通过栓舌和被测试样的中心孔进行可靠连接(若被测试样为良导体，则试样中心可不开孔)，以保证在测试频段内同轴线内、外导体之间传输均匀、稳定的横电磁波。被测试样置于两段同轴线之间，由同轴装置输入、输出端口之间的功率差值得到屏蔽材料的电磁屏蔽效能值。

同轴线法测试原理的等效电路图如图2所示，其中：Z₀为传输线的特性阻抗；Z_l为试样阻抗；Z_C为试样与传输线的接触阻抗。

经对等效电路分析可知，电磁屏蔽效能值SE可由下式确定：

$\mathrm{SE}=20\log |1+\frac{Z_O}{2(Z_L+Z_C)}|$

按照常规进行测试时，为保证测试结果的准确性，要求Z_C＜＜Z_L，因此上式可简化为：

$\mathrm{SE}=20\log |1+\frac{Z_O}{2Z_L}|$

从同轴线法测试原理图可以看出，被测试样与同轴测试装置内外导体间的接触阻抗Z_C影响着测试的准确性。