[发明专利]高光谱亚像元目标探测方法及装置有效
申请号: | 200710176782.4 | 申请日: | 2007-11-02 |
公开(公告)号: | CN101144861A | 公开(公告)日: | 2008-03-19 |
发明(设计)人: | 李庆波;张广军;聂鑫 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
主分类号: | G01S17/89 | 分类号: | G01S17/89;G01S7/48;G01J3/28 |
代理公司: | 北京汇泽知识产权代理有限公司 | 代理人: | 黄挺 |
地址: | 100083北京市海淀区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光谱 亚像元 目标 探测 方法 装置 | ||
1.一种高光谱亚像元目标探测方法,其特征在于,包括以下步骤:
建立目标光谱和待测图像像元光谱二维矩阵的逆模型;
获取所述逆模型的回归系数向量;
根据所述回归系数向量获取各像元的马氏距离;
判定马氏距离大于阀值的回归系数所对应的像元为亚像元目标点。
2.如权利要求1所述高光谱亚像元目标探测方法,其特征在于,所述建立目标光谱和待测图像像元光谱二维矩阵的逆模型,具体包括:
将获取的待测图像像元的三维高光谱数据表示为高光谱反射率的二维矩阵: Rm×n=[p1,p2…py×i+j…px×y],0<i≤x,0<j≤y,
或Rm×n=[p1,p2…pi+x×j…px×y],0<i≤x,0<j≤y,
其中,Rn×m表示像元光谱的二维矩阵,[p1,p2…py×i+j…px×y]和[p1,p2…pi+x×j…px×y]表示像元的光谱矢量,m表示波段数,n表示图像像元总数,x表示图像像元行数,y表示图像像元列数,n=x×y;
建立所述目标光谱和所述待测图像像元光谱二维矩阵的线性关系:
St=Rm×n×cPLS+Em×1,
其中,St表示目标光谱向量,Rn×m表示像元光谱的二维矩阵,cPLS表示回归系数,Em×1表示噪声向量。
3.如权利要求2所述高光谱亚像元目标探测方法,其特征在于,所述将三维高光谱数据表示为二维矩阵和建立线性关系之间,还包括:对所述目标光谱和所述待测图像像元光谱二维矩阵进行预处理。
4.如权利要求3所述高光谱亚像元目标探测方法,其特征在于,所述预处理包括标准正交变换处理或附加散射校正处理。
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