[发明专利]一种自动下载集成电路序列号码的方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种在集成电路的测试过程中，将唯一的符合一定规律的序列号码自动下载到集成电路芯片内部的存储器指定区域的方法，属于集成电路测试技术领域。

背景技术

某些具有特殊功能的集成电路芯片如身份识别芯片等需要对生产加工的每一个芯片进行唯一性标识，这种唯一性标识就是芯片序列号码(serial number，简称SN)。芯片序列号码的作用是为每一个芯片的质量追踪提供标识，也可以作为辨别芯片真伪的一个依据。用户可以根据芯片的SN信息查到该芯片的生产加工信息和出厂测试数据。在芯片的使用阶段，利用专门的读卡器读出芯片中存储的唯一序列号码，按照一定的解码方法可以得到芯片的质量信息。

目前，普遍采取的一种唯一性标识方法是在芯片内部集成的存储器的指定位置中存贮一组二进制序列号码。序列号码的数据格式，如字节数、二进制位数、编码方式等需要满足相关的统一规范的要求。序列号码包含的信息也要符合统一的规定，通常包含的信息有：该芯片的设计生产厂家代码，该芯片的测试时间，该芯片所在晶圆的批号和编号，该芯片在晶圆上的XY坐标等。通常，在芯片生产加工后的测试阶段，将序列号码写入到芯片中指定的存储器区域内，然后检查序列号码的准确性和唯一性。

在申请号为200710048343.5的中国发明专利申请中，公开了一种集成电路随机序列号码产生的方法。该方法中，利用集成电路生产制造过程中由于边缘效应，离子注入和表面态效应以及载流子迁移率的变化等不理想因素会造成的元器件的不匹配性，将高增益放大电路检测元器件间的不匹配并转化为与之相对应的数字电平，由于元器件之间的这种不匹配性随机性很强，因此使用多个放大电路单元可以实现了多位随机序列号码的产生。

但是，就本发明人所知，目前尚没有在集成电路的测试过程中，将唯一的符合一定规律的序列号码自动下载到集成电路芯片内部的存储器指定区域的成熟方法问世。

发明内容

本发明的目的在于提供一种自动下载集成电路序列号码的方法。利用该方法，可以针对每一个芯片生成唯一的序列号码，并将该序列号码下载到该芯片内部存储器中的指定区域。

为实现上述的发明目的，本发明采用下述的技术方案：

一种自动下载集成电路序列号码的方法，其特征在于包括如下的步骤：

(1)在集成电路芯片的测试过程中采集每个集成电路芯片与集成电路序列号码有关的信息；

(2)按照预定的编码方式，将所述与集成电路序列号码有关的信息转换成预定格式的集成电路序列号码；

(3)将被测集成电路芯片的序列号码下载流程转化成集成电路测试系统可执行的序列号码下载测试图形，并且加载到测试系统的测试图形存储器中；所述序列号码下载测试图形为：使得被测集成电路芯片内部存储器处于写入状态，集成电路芯片的指定存储器进入写入状态的管脚输入1，向所述存储器发出存储集成电路序列号码的指定区域的地址，通过被测集成电路芯片的地址管脚输入存储集成电路序列号码的指定区域的地址，向所述存储器发送生成的被测集成电路芯片的集成电路序列号码，通过被测集成电路芯片的数据管脚输入相应的集成电路序列号码，同时监控被测集成电路芯片的输出管脚的输出状态；序列号码下载测试图形中的时序信息包括集成电路芯片的工作频率，写入控制管脚、地址管脚、数据管脚的信号变化的时间；

(4)在所述集成电路芯片通过所有测试项目后，所述集成电路测试系统执行所述序列号码下载测试图形，完成集成电路序列号码向被测集成电路芯片内部存储器中指定区域的写入；

(5)在集成电路序列号码写入结束后，检查所述集成电路序列号码的准确性和唯一性，从而完成下载操作。

其中，在所述步骤(1)中，通过基于IEEE 488标准的GPIB接口板控制集成电路测试系统与全自动探针台进行通信，实时读取当前被测集成电路芯片的测试时间、批号、片号和坐标信息。

在所述步骤(2)中，先将获取的每一个集成电路芯片的信息进行从十进制到二进制的数据转换，然后将所述信息按照生产厂家代码、测试集成电路芯片的年月日、晶圆的批号、集成电路芯片在晶圆上的X和Y坐标的顺序填入规定位置，从而生成预定格式的集成电路序列号码。

在所述步骤(5)中，所述集成电路测试系统运行测试图形，将被测集成电路芯片的所述存储器设置为读取状态，输入所述存储器中存储集成电路序列号码的指定区域的起始地址，读取指定区域的内容，与正确的集成电路序列号码比较，如果相同则集成电路序列号码下载正确，否则错误。