[发明专利]用于嵌入式设备开发调试的通用接口设备无效

专利信息
申请号: 200710172325.8 申请日: 2007-12-14
公开(公告)号: CN101458303A 公开(公告)日: 2009-06-17
发明(设计)人: 吴斌 申请(专利权)人: 希姆通信息技术(上海)有限公司
主分类号: G01R31/317 分类号: G01R31/317;G01R1/02;G01R1/073;G06F13/00
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 代理人: 薛 琦
地址: 200051上海市长宁*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 用于 嵌入式 设备 开发 调试 通用 接口
【权利要求书】:

1、一种用于嵌入式设备开发调试的通用接口设备,包括:设备控制和配置接口(1)、活动升降支架(2)、控制芯片(3)、供电电源接口(4)、JTAG调试接口(5)、调试探针板(6)、调试板(7)、底座固定台(8)以及复位按键(9),其特征在于,通过供电电源接口(4)为控制芯片(3)提供工作电压,通过设备控制和配置接口(1)对设备进行控制和配置,使得调试探针板(6)中的必要部分生效,所述调试探针板(6)被压下后与固定在底座台(8)上的调试板(7)上的触点连接,就可以通过JTAG调试接口(5)进行调试,通过开机键(9)对调试对象加电。

2、如权利要求1所述的用于嵌入式设备开发调试的通用接口设备,其特征是,控制芯片(3)采用单片机开发。

3、如权利要求1所述的用于嵌入式设备开发调试的通用接口设备,其特征是,当控制芯片(3)收到USB配置命令时,对命令进行解析,如命令合法,则通过电路控制连接相应的调试探针板(6)上的探针,使所述探针与JTAG调试接口(5)引脚映射。

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