[发明专利]一种探测材料可重复使用的气体氧分子总量的探测方法有效

专利信息
申请号: 200710171740.1 申请日: 2007-11-30
公开(公告)号: CN101451956A 公开(公告)日: 2009-06-10
发明(设计)人: 江晓松 申请(专利权)人: 先普半导体技术(上海)有限公司
主分类号: G01N21/75 分类号: G01N21/75;G01N21/17
代理公司: 上海三和万国知识产权代理事务所 代理人: 刘立平
地址: 201108上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 探测 材料 重复使用 气体 分子 总量 方法
【权利要求书】:

1.一种探测材料可重复使用的气体氧分子总量的探测方法,所述方法适用于设有气体容器的气体纯化装置,其特征在于,所述方法包括下述步骤:

探测材料的制备:

以无机多孔材料为基材,在其孔隙的内外表面上覆盖一种或一种以上的选自锰,铬,铜的氧化物,制成探测材料;

加热激活:

首先,将上述探测材料置于还原气氛中进行加热激活,使所述一种或一种以上的选自锰,铬,铜的氧化物被还原到低价氧化态;

光照射:

采用一光导纤维,将波长为500-550纳米的光照射在所述探测材料的表面,同时使用第二根光导纤维对准被第一根光导纤维照射的位置,收集探测材料表面的反射光,

光电信号转换:

第二根光导纤维的另一端对准一个光电二极管,该光电二极管将第二根光导纤维收集到的反射光转变为电信号;

氧化物的高价态氧化:

完成上述激活后,将探测材料置于被测量的气体中,气体中含的氧分子会逐步使锰,铬,铜的氧化物被氧化到高价氧化态,

此时探测材料表面会逐步失去对特定波长光的反射能力,从而导致光电二极管上产生的电信号逐步减小;

氧分子总量测定:

当电信号减小到预先设定值时,可以认为通过的累计氧分子总量已经达到预先设定指标。

2.如权利要求1所述的探测材料可重复使用的气体氧分子总量的探测方法,其特征在于,所述无机多孔类基材为沸石类材料。

3.如权利要求1所述的探测材料可重复使用的气体氧分子总量的探测方法,其特征在于,所述无机多孔材料的孔隙度为200平方米/克以上。

4.如权利要求1所述的探测材料可重复使用的气体氧分子总量的探测方法,其特征在于,所述氧化物为50-100%锰+0-50%铜的氧化物。

5.如权利要求1所述的探测材料可重复使用的气体氧分子总量的探测方法,其特征在于,所述纳米光为550纳米的绿光。

6.如权利要求1所述的探测材料可重复使用的气体氧分子总量的探测方法,其特征在于,所述氧分子总量测定设定为1X10-6mol。

7.如权利要求1所述的探测材料可重复使用的气体氧分子总量的探测方法,其特征在于,所述激活温度为320-350℃。

8.如权利要求1所述的探测材料可重复使用的气体氧分子总量的探测方法,其特征在于,在加热激活的过程中,在气体容器内通入3-10%的氢气和90-97%的氮气。

9.如权利要求1所述的探测材料可重复使用的气体氧分子总量的探测方法,其特征在于,在加热激活的过程中,在气体容器内通入100%的氢气。

10.如权利要求1所述的探测材料可重复使用的气体氧分子总量的探测方法,其特征在于,激活时间为0.5-2小时。

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