[发明专利]测试点布设检测方法无效
申请号: | 200710169549.3 | 申请日: | 2007-11-09 |
公开(公告)号: | CN101430722A | 公开(公告)日: | 2009-05-13 |
发明(设计)人: | 倪兆云;范文纲 | 申请(专利权)人: | 英业达股份有限公司 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 戈 泊 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 布设 检测 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种测试点布设检测技术,更详而言之,涉及一种应用于通过数据处理装置执行,依据电路图而形成印刷电路板的布线图的设计程序的测试点布设检测方法。
背景技术
印刷电路板(Printed Circuit Board;PCB)在大批出货前,均需要进行例如短路、断路、自动测试设备(Auto Test Equipment;ATE)树链性能、或自动测试设备边界扫描性能等指标测试,以确保该印刷电路板的出货质量,为确认该电路板的质量。通常,是于该印刷电路板上布设有多个测试点,同时复提供具有对应各该测试点的接触点的测试治具,以供进行上述指标测试作业。
目前,是于通过例如Allegro、Protel等设计程序,依据电路图而形成印刷电路板的布线图的设计过程中,执行各该测试点的布设作业,而且,一般是通过人为方式进行测试点的布设。例如,首先,人为判断布设于该印刷电路板中哪些物件(例如电子元件、或具有多接脚的集成芯片的某些接脚)需作为用于后续测试作业的待测物件,接着,找出与各该待测物件连接的待测信号线(Net),从而供后续于各该待测信号线上布设测试点。
然,通过上述人为判断--查找的方式,易受人为因素的影响,而遗漏部分待测信号线上布设测试点。
而且,一般于可制造性设计基准(Design For Manufacture;DFM)中,记载有多个对印刷电路板性能(例如自动测试设备树链性能、或自动测试设备边界扫描性能等)极为重要的待测物件,后续需通过布设于连接各该待测物件的信号线上的测试点进行相关测试。换言之,上述待测物件即为必要物件,则连接各该必要物件的信号线为必要待测信号线,于其上必须布设有测试点,若在印刷电路板设计阶段,遗漏的测试点为该必须布设(必要)的测试点,则会影响后续各该必要的测试作业,而通常在布线阶段布线人员仅依据电路图设计人员所提供的电路图进行后续的印刷电路板布设,对于何为必要、何为非必要测试点的了解程度不及电路图设计人员,只能凭借经验进行判断。故,极易将该必要测试点的布设遗忘。
同时,若是忘了布设必要的测试点,只有等到将该印刷电路板交付予测试人员进行后续测试作业后,方可发现问题,此时,则将该印刷电路板交还予布线人员重工(Rework),以于上述必要信号线上添加测试点。如此一来,则大大增加测试点布设时间。此外,于测试点布设完毕后,复需进行测试点布设合理性判断,例如各该测试点布设间距是否符合一特定距离范围、以及该测试点所布设的层面是否符合要求等,而目前这些合理性检测过程均是以人为方式一一进行检测,既耗精力又花费时间,且极易产生疏漏。
综上所述,如何提出一种可解决现有技术的种种缺陷的测试点布设检测方法,实为目前亟欲解决的技术问题。
发明内容
鉴于上述现有技术的缺点,本发明的主要目的在于提供一种测试点布设检测方法,以防止遗漏布设测试点,进而提高布设涵盖率。
本发明的另一目的在于提供一种可快速完成的测试点布设检测方法,以节省时间。
为达到上述目的及其它目的,本发明提供一种测试点布设检测方法,应用于通过数据处理装置执行的设计程序中,而该设计程序依据电路图而形成布线图。其中,该布线图与该电路图包含有多个对应的符合可制造性设计基准(Design For Manufacture;DFM)的待测物件、以及多条电性连接各该待测物件且具有对应于其上有/无布设测试点的测试点布设属性信息的待测信号线(Net)。于一实施例中,本发明的测试点布设检测方法包括以下步骤:于该电路图中,添加一识别符至各该待测信号线的名称中;通过该设计程序将该电路图导入至该布线图中,以于该布线图中对应产生具有该识别符的多条信号线的印刷电路板;于该布线图中,撷取该印刷电路板中具有该识别符的信号线的测试点布设属性信息;以及依据所撷取的各该测试点布设属性信息,判断各该信号线的测试点布设属性信息未有布设测试点者,则标示各该信号线,以供后续于该信号线上布设测试点。
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