[发明专利]一种激光多模式微体积样品分析方法及所用装置有效

专利信息
申请号: 200710168905.X 申请日: 2007-12-14
公开(公告)号: CN101196465A 公开(公告)日: 2008-06-11
发明(设计)人: 胡继明;熊博;周平 申请(专利权)人: 武汉大学
主分类号: G01N21/00 分类号: G01N21/00;G01N21/17;G01N21/64;G01N21/45;G01N30/74;G01N30/78
代理公司: 武汉华旭知识产权事务所 代理人: 刘荣
地址: 43007*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 激光 模式 体积 样品 分析 方法 所用 装置
【权利要求书】:

1.一种激光多模式微体积样品分析方法,其特征在于包括以下步骤:1)将毛细管电泳仪中去除外保护层的一段毛细管作为微检测池(10),将毛细管(17)的两端分别浸没于缓冲溶液承载池(19)和缓冲溶液承载池(21)的缓冲溶液液面下,直流高压电源(18)的正负极分别通过圆柱形铂电极分别浸没于缓冲溶液承载池(19)和缓冲溶液承载池(21)的缓冲溶液液面下,进样时用装有样品的样品池(20)取代其中一个缓冲溶液承载池,然后利用电驱动或者压差进行进样操作,进样完毕后将原缓冲溶液承载池还原至原本位置,然后打开直流高压电源(18)输出直流高压,使毛细管电泳仪通电,在直流高压电源的作用下,不同的微体积样品电泳趟度不同,导致不同的微体积样品将以不同速度向毛细管(17)运动,不同的化学物质依次通过被剥离外防护层的毛细管区域即微检测池(10);

2)泵浦激光器(1)射出的激光光束经过斩光器(2)和偏振片(3)的调制后,在分束器(4)处与热透镜检测激光器(5)所射出的激光光束耦合成同一激光束,所得的耦合光束在透过分束器(6)后被聚焦透镜(9)聚焦于微检测池(10)的中心处,透过微体积样品样品池(20)的耦合激光束由高通滤光片(11)滤去泵浦激光束,再由光电检测器件(12)进行检测得到激光热透镜检测模式原始信号;微体积样品由泵浦激光所激发的荧光由显微物镜(13)所收集,经过光阑(14)和带通滤光片(15)的调制后,由光电检测器件(16)进行检测得到激光诱导荧光检测模式原始信号;微体积样品检测池处由于散射所产生的回射散射光经分束器(6)反射至垂直方向并产生肉眼可见的规整干涉条纹,经光阑(7)的调制后由光电检测器件(8)进行检测得到激光回射干涉检测原始信号,通过计算机附带的数字采集卡对激光热透镜检测模式原始信号、激光诱导荧光检测信号和激光回射干涉检测信号进行采集,得到实时变化的数据图线,根据实时变化的数据图线实现对微体积样品的分析。

2.根据权利要求1所述的激光多模式微体积样品分析方法,其特征在于:光电检测器件(8)和光电检测器件(12)为光二极管、光电倍增管、光电耦合器件或二极管阵列,光电检测器件(16)为光电倍增管、光电耦合器件或二极管阵列。

3.激光多模式微体积样品分析所用装置,至少包括光学调制检测部分、毛细管电泳仪和信号采集处理部分,其特征在于:光学检测调制部分的泵浦激光器(1)、斩光器(2)、偏振片(3)、分束器(4)、分束器(6)、聚焦透镜(9)、微检测池(10)、高通滤光片(11)、光电检测器件(12)依次排列,且中心均位于同一水平线,分束器(4)垂直方向设有热透镜检测激光器(5),分束器(6)垂直方向依次设有光阑(7)和光电检测器件(8),微检测池(10)垂直方向依次设有显微物镜(13)、光阑(14)、带通滤光片(15)和光电检测器件(16),其中微检测池(10)为毛细管电泳仪中去除外保护层的一段毛细管;信号采集处理部分中的计算机(26)与光电检测器件(8)之间设有锁相放大器(23),计算机(26)和光电检测器件(12)之间设有锁相放大器(24),计算机(26)与光电检测器件(16)之间设有锁相放大器(25),斩光器(2)上设有斩光器控制器(22),且斩光器控制器(22)通过锁相放大器(19)、锁相放大器(24)和锁相放大器(25)与计算机(21)连接。

4.根据权利要求3所述的激光多模式微体积样品分析所用装置,其特征在于:检测激光热透镜检测模式原始信号的光电检测器件(12)与毛细管电泳仪中的样品池(20)之间的距离需大于或等于150毫米。

5.根据权利要求3所述的激光多模式微体积样品分析所用装置,其特征在于:检测激光诱导荧光检测模式原始信号的光电检测器件(16)和微检测池(10)分别位于显微物镜(13)的焦平面上。

6.根据权利要求3所述的激光多模式微体积样品分析所用装置,其特征在于:微检测池(10)由光透过率高的材质如玻璃、有机玻璃、石英等制成,其形状为立方体或圆柱体,且内径大于75微米。

7.根据权利要求3所述的激光多模式微体积样品分析所用装置,其特征在于:检测激光回射干涉检测原始信号的光电检测器件(8)和检测激光热透镜检测模式原始信号光电检测器件(12)为光二极管、光电倍增管、光电耦合器件或二极管阵列;检测激光诱导荧光检测模式原始信号的光电检测器件(16)为光电倍增管、光电耦合器件或二极管阵列。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉大学,未经武汉大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200710168905.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top