[发明专利]检测显示器的残影现象的方法及装置无效

专利信息
申请号: 200710168007.4 申请日: 2007-10-31
公开(公告)号: CN101425246A 公开(公告)日: 2009-05-06
发明(设计)人: 苏荣智;郭政翰 申请(专利权)人: 台湾薄膜电晶体液晶显示器产业协会;中华映管股份有限公司;友达光电股份有限公司;瀚宇彩晶股份有限公司;奇美电子股份有限公司;财团法人工业技术研究院;统宝光电股份有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00;G09G3/36;G02F1/13;G01R31/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 蒲迈文;黄小临
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 检测 显示器 现象 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种使用视觉模型检测显示器的残影现象的方法,包括:

提供一显示器;

在该显示器上显示一测试画面以进行老化;

在利用该测试画面进行老化一段时间之后,于该显示器上显示一中间阶灰度画面,该中间阶灰度画面的灰度是介于该显示器的最小阶灰度与最大阶灰度之间,其中该测试画面的灰度与该中间阶灰度画面的灰度不相同;

通过一影像撷取装置撷取当该显示器显示该中间阶灰度画面时候的影像;

利用视觉模型将该影像撷取装置所撷取到的影像信号进行量化,以模拟人眼所看到该影像的感觉;以及

将仿真的结果转换成残影的等级。

2.如权利要求1所述的检测显示器的残影现象的方法,其中该测试画面是由至少一第一图案与至少一第二图案搭配所构成,且该第一图案与该第二图案的灰度不相同。

3.如权利要求2所述的检测显示器的残影现象的方法,其中该第一图案的灰度为该显示器的最高阶灰度,该第二图案的灰度为该显示器的最低阶灰度。

4.如权利要求2所述的检测显示器的残影现象的方法,其中该第一图案与该第二图案是棋盘式分布。

5.如权利要求2所述的检测显示器的残影现象的方法,其中该第一图案与该第二图案其中之一是位于该测试画面的中央,且另一是围绕在该第一图案与该第二图案其中之一的周围。

6.如权利要求1所述的检测显示器的残影现象的方法,其中该测试画面包括一具有高阶灰度的全画面,其灰度高于该中间阶灰度画面的灰度,或是一具有低阶的全画面,其灰度低于该中间阶灰度画面的灰度。

7.如权利要求1所述的检测显示器的残影现象的方法,其中将模拟的结果转换成残影的等级包括依照人眼对显示器残影敏感程度进行分级。

8.如权利要求1所述的检测显示器的残影现象的方法,其中在显示该测试画面,进行老化一段时间之后,会于该显示器上形成残影,且该残影会在该中间阶灰度画面中显示出。

9.如权利要求1所述的检测显示器的残影现象的方法,其中该测试画面以及该中间阶画面为灰度影像或是彩色影像。

10.如权利要求9所述的检测显示器的残影现象的方法,其中该彩色影像包括红色影像、绿色影像或是蓝色影像。

11.如权利要求1所述的检测显示器的残影现象的方法,其中该显示器为液晶显示器或是等离子体显示面板。

12.一种检测显示器的残影现象的装置,包括:

一图形产生器,其与一显示器电连接,该图形产生器所产生图形会输入至该显示器,以使该显示器显示出一测试画面;

一影像撷取装置,设置于该显示器的前方,其用以撷取该显示器所显示出的影像;

一视觉模型,其用以将该影像撷取装置所撷取到的影像信号转换成等同人眼所看到的感觉;以及

一控制器,其与该视觉模型、该图形产生器以及该影像撷取装置电性连接,其用以接收该视觉模型所仿真的结果、控制该图形产生器以及控制该影像撷取装置。

13.如权利要求12所述的检测显示器的残影现象的装置,其中该影像撷取装置包括电荷耦合组件或是互补式金属氧化物半导体组件。

14.如权利要求12所述的检测显示器的残影现象的装置,其中该图形产生器所产生图形是由至少一第一图案与至少一第二图案搭配所构成,且该第一图案与该第二图案的灰度不相同。

15.如权利要求14所述的检测显示器的残影现象的装置,其中该第一图案的灰度为该显示器的最高阶灰度,该第二图案的灰度为该显示器的最低阶灰度。

16.如权利要求14所述的检测显示器的残影现象的装置,其中该第一图案与该第二图案是棋盘式分布。

17.如权利要求14所述的检测显示器的残影现象的装置,其中该第一图案与该第二图案其中之一是位于该测试画面的中央,且另一是围绕在该第一图案与该第二图案其中之一的周围。

18.如权利要求12所述的检测显示器的残影现象的方法,其中该图形产生器所产生图形包括一具有高阶灰度的全画面,其灰度高于该中间阶灰度画面的灰度,或是一具有低阶灰度的全画面,其灰度低于该中间阶灰度画面的灰度。

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