[发明专利]管理临时缺陷列表的方法有效
| 申请号: | 200710167065.5 | 申请日: | 2004-04-29 |
| 公开(公告)号: | CN101202088A | 公开(公告)日: | 2008-06-18 |
| 发明(设计)人: | 黄盛凞;高祯完 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
| 主分类号: | G11B20/18 | 分类号: | G11B20/18;G11B7/0037 |
| 代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人: | 郭鸿禧;韩素云 |
| 地址: | 韩国京畿道*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 管理 临时 缺陷 列表 方法 | ||
1.一种用于管理存储在一次写入记录介质上的用户数据的临时缺陷列表的方法,包括:
在基于逐簇将临时缺陷列表记录在一次写入记录介质的临时缺陷管理区期间执行写入后检验处理,从而当在记录临时缺陷列表期间产生缺陷簇时,记录在缺陷簇中的数据被记录在替换簇中。
2.如权利要求1所述的方法,其中,执行写入后检验处理的步骤包括:
以单一单位将临时缺陷列表记录在临时缺陷管理区的连续簇中;和
检验记录的单一单位的临时缺陷列表,从而当缺陷被定位在与临时缺陷列表的一部分相应的临时缺陷管理区的簇中的一个中时,在临时缺陷管理区的下一簇中存储并检验所述临时缺陷列表的该部分。
3.如权利要求2所述的方法,还包括:
将指示位置的指针信息存储在记录临时缺陷列表的临时缺陷管理区中。
4.如权利要求3所述的方法,其中,指针信息仅指向包含临时缺陷列表的临时缺陷管理区的簇。
5.如权利要求3所述的方法,还包括:
将指针信息存储在被存储于临时缺陷管理区中的临时盘定义结构中。
6.如权利要求5所述的方法,其中,当临时缺陷管理区满时,临时缺陷列表和临时盘定义结构被存储在一次写入记录介质上的次临时缺陷管理区中。
7.如权利要求6所述的方法,其中,临时缺陷列表在临时盘定义结构之前被存储在临时缺陷管理区中。
8.如权利要求7所述的方法,其中,一次写入记录介质是一次写入光盘。
9.如权利要求8所述的方法,其中,一次写入光盘是单记录层盘。
10.如权利要求1所述的方法,其中,执行写入后检验处理的步骤包括:
将临时缺陷列表记录在临时缺陷管理区的多个单一簇中;和
检验每个单一簇,并且当缺陷定位于与临时缺陷列表的一部分相应的临时缺陷管理区的单一簇中时,在临时缺陷管理区的下一簇中记录并检验所述临时缺陷列表的该部分。
11.如权利要求10所述的方法,还包括:
将指示位置的指针信息存储在记录临时缺陷列表的临时缺陷管理区中。
12.如权利要求11所述的方法,其中,指针信息仅指向包含临时缺陷列表的临时缺陷管理区的簇。
13.如权利要求11所述的方法,还包括:
将指针信息存储在被存储于临时缺陷管理区中的临时盘定义结构中。
14.如权利要求13所述的方法,其中,当临时缺陷管理区满时,临时缺陷列表和临时盘定义结构被存储在一次写入记录介质上的次临时缺陷管理区中。
15.如权利要求14所述的方法,其中,临时缺陷列表在临时盘定义结构之前被存储在临时缺陷管理区中。
16.如权利要求15所述的方法,其中,一次写入记录介质是一次写入光盘。
17.如权利要求16所述的方法,其中,一次写入光盘是单记录层盘。
18.如权利要求1所述的方法,其中,缺陷簇和替换簇的位置由物理扇区号指示。
19.如权利要求18所述的方法,其中,物理扇区号与缺陷簇和替换簇的各自第一扇区相应。
20.如权利要求18所述的方法,其中,物理扇区号与缺陷簇和替换簇的各自最后扇区相应。
21.如权利要求18所述的方法,其中,索引指示各个缺陷簇和替换簇。
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