[发明专利]图像传感器及其制造方法无效
| 申请号: | 200710166510.6 | 申请日: | 2007-11-02 |
| 公开(公告)号: | CN101206395A | 公开(公告)日: | 2008-06-25 |
| 发明(设计)人: | 金尚源 | 申请(专利权)人: | 东部高科股份有限公司 |
| 主分类号: | G03F7/00 | 分类号: | G03F7/00;G03F1/00;H01L27/14;H01L27/148 |
| 代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 李德山;杨生平 |
| 地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 图像传感器 及其 制造 方法 | ||
1.一种图像传感器的制造方法,包括:
在像素阵列衬底上涂敷用于微透镜的光刻胶;
通过使用曝光掩膜对光刻胶进行曝光和显影,来形成具有台阶差的透镜图案阵列;以及
对透镜图案阵列进行回流,以形成不同形状的微透镜。
2.如权利要求1所述的方法,其中,所述曝光掩膜是半色调相移掩膜。
3.如权利要求2所述的方法,其中,所述半色调相移掩膜包括用于所述曝光掩膜的每个掩膜块的挡光区、部分光透射区,和完全光透射区。
4.如权利要求3所述的方法,其中,所述透镜图案阵列中央的掩膜块包括:所述掩膜块的中央区域中的挡光区,以及所述掩膜块的中央区域周围的部分光透射区。
5.如权利要求3所述的方法,其中,所述透镜图案阵列左部的掩膜块包括:在所述掩膜块的左边缘处的挡光区,以及在所述掩膜块的剩余区域的部分光透射区。
6.如权利要求3所述的方法,其中,所述透镜图案阵列右部的掩膜块包括:在所述掩膜块的右边缘处的挡光区,以及在所述掩膜块的剩余区域的部分光透射区。
7.如权利要求1所述的方法,其中,当从多个微透镜中选择的微透镜处于离开中央区的越远的位置时,该所选微透镜的微透镜边缘区域的厚度形成得越厚。
8.如权利要求1所述的方法,其中,当从多个微透镜中选择的微透镜处于离开中央区的越远的位置时,该所选微透镜的表面曲率半径以越大的非对称形式变化。
9.一种图像传感器,包括:
形成在像素阵列衬底上的滤色镜阵列;以及
形成在滤色镜阵列上的微透镜阵列,
其中,所述微透镜阵列中的微透镜被形成为不同的形状。
10.如权利要求9所述的图像传感器,其中,当从微透镜阵列中选择的微透镜处于离开中央区的越远的位置时,该所选微透镜的表面曲率半径以越大的非对称形式变化。
11.如权利要求9所述的图像传感器,其中,当从微透镜阵列中选择的微透镜处于离开中央区的越远的位置时,该所选微透镜的微透镜边缘区域的厚度形成得越厚。
12.如权利要求9所述的图像传感器,其中,位于所述微透镜阵列的中央区域的微透镜被形成为穹顶形状。
13.如权利要求9所述的图像传感器,其中,位于所述微透镜阵列的左侧区域的微透镜的左边缘区域形成得厚。
14.如权利要求9所述的图像传感器,其中,位于所述微透镜阵列的右侧区域的微透镜的右边缘区域形成得厚。
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