[发明专利]表面安装装置无效
申请号: | 200710165951.4 | 申请日: | 2007-11-09 |
公开(公告)号: | CN101179925A | 公开(公告)日: | 2008-05-14 |
发明(设计)人: | 越川良一 | 申请(专利权)人: | JUKI株式会社 |
主分类号: | H05K13/04 | 分类号: | H05K13/04 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 | 代理人: | 何立波;张天舒 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 表面 安装 装置 | ||
技术领域
本发明涉及一种表面安装装置,其自动地校正与供给电子部件的进料器的吸附位置对应的吸附坐标。
背景技术
在现有的表面安装装置中,进行如下安装动作,利用安装于可以在XY方向上移动的搭载头上的吸附嘴吸附保持电子部件后,使上述搭载头移动至已定位的基板的目标位置上方,然后使上述搭载头下降,将所吸附的上述电子部件搭载至基板的目标位置上。
此时,为了使电子部件与目标位置准确地一致,利用吸附嘴吸附保持设置于供料仓中的带式进料器上的电子部件后,例如专利文献1中所公开,利用安装于上述搭载头上的激光传感器进行吸附异常的检测,同时,测定上述电子部件的部件中心与上述吸附嘴的吸附嘴中心的偏差,校正搭载头的XY位置以消除该偏差,随后将该电子部件搭载至基板上。
另外,现有的表面安装装置,如专利文献2中所公开,对各带式进料器的吸附位置具有自动学习功能(坐标自校正功能),利用上述那样的激光传感器,对实际吸附保持的部件中心与吸附嘴中心的偏差量进行多次测定,利用求出的平均值,对于相应的吸附位置,时刻校正在吸附时使吸附嘴中心定位的吸附坐标。
专利文献1:特开平6-37495号公报
专利文献2:特开平2-191400号公报
发明内容
但是,在上述的自动学习功能中,存在以下问题,即,由于是求出吸附嘴和电子部件的相对偏差量的平均值而进行校正,所以在使由吸附嘴在带式进料器的吸附位置处吸附保持的电子部件,移动至激光传感器的设置位置而进行测定的情况下,有时部件中心和吸附嘴中心间的吸附偏差量不一定与实际在带式进料器处的吸附位置的偏差量一致,甚至可能使吸附嘴的定位位置与实际的吸附位置错开,反而导致吸附率下降。
本发明就是为了解决上述现有的问题而提出的,其目的在于,通过直接对带式进料器的吸附位置进行拍摄并校正偏差量,从而准确地校正吸附坐标。
另外,本发明的目的还在于,缩短校正所需要的时间,提高作业效率。
本发明的表面安装装置,其通过驱动单元(14,18)使搭载头(10)在平面方向上移动,利用安装在该搭载头上的吸附嘴(24)吸附输送至多个进料器(20)各自的吸附位置上的部件后,将该部件搭载至基板上,该表面安装装置具有:照相机(22),其安装在上述搭载头上;对由上述吸附嘴吸附的部件的吸附状态进行监视的单元(30);以及使上述搭载头移动至进料器上方,利用上述照相机对该进料器的吸附位置进行拍摄,根据该拍摄结果,校正使上述吸附嘴定位的吸附坐标的单元(步骤7、8)。
另外,在技术方案1中所述的表面安装装置中,具有:根据监视结果,针对每个进料器,对由吸附位置偏差引起的吸附异常的发生次数进行统计的单元(步骤5);判定所统计的吸附异常的发生次数是否超过规定次数的单元(步骤6);以及使上述搭载头移动至判定为超过设定次数的进料器的上方,利用上述照相机对该进料器的吸附位置进行拍摄,根据该拍摄结果,校正使上述吸附嘴定位的吸附坐标的单元(步骤7、8)。
发明的效果
根据本发明,由于针对每个进料器统计由吸附位置的偏差引起的错误发生次数,如果发生次数超过设定次数,则利用安装在搭载头上的照相机对该吸附位置进行拍摄,根据该拍摄结果,校正在吸附部件时使吸附嘴定位的吸附坐标,从而在直接确认吸附位置的同时对吸附坐标进行校正,所以可以准确地校正吸附坐标,能够可靠地防止由吸附位置偏差而引起的吸附异常的发生。此外,由于在发生次数超过规定次数时进行校正,所以可以缩短在搭载工序中校正所需要的时间,提高作业效率。
附图说明
图1是表示本发明涉及的一种实施方式的表面安装装置的概要的平面图。
图2是表示实施方式的作用的流程图。
图3是用于说明根据照相机拍摄结果的校正原理的线图。
图4是供料仓斜视图。
具体实施方式
下面,参照附图对本发明的实施方式进行详细说明。
图1是表示本发明涉及的一种实施方式的表面安装装置的概要的平面图。
本实施方式的表面安装装置具有:X轴机架(驱动单元)14,其通过X轴电动机12使搭载头10在X轴方向上移动;以及Y轴机架(驱动单元)18,其通过Y轴电动机16使该X轴机架14在Y方向上移动,从而使搭载头10在平面方向上移动,同时,在规定的供料仓40上并列地设置多个带式进料器20。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于JUKI株式会社,未经JUKI株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200710165951.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:发光体的亮度测量方法及其装置
- 下一篇:多堆叠封装及其制造方法