[发明专利]全息图记录装置、全息图记录介质以及全息图记录方法

说明书

相关申请的交叉参考

本发明包含于2006年10月11日在日本专利局提交的日本专利申请JP 2006-277902的主题，其全部内容结合于此作为参考。

技术领域

本发明涉及全息图记录装置、全息图记录介质以及全息图记录方法。

背景技术

近年来，一种全息存储器引起了注意，其是可以实现高记录密度且在高传输速度下记录/再生记录数据的记录/再生装置。在全息存储器中，还使用记录介质的厚度方向。在记录操作中，在一个页单位中处理二维信息，以及基于根据记录数据的页数据以全息图(衍射光栅)的形式形成参照光和信号光的干涉条纹从而在全息图记录介质中进行三维记录。在再生操作中，通过获得由向这样形成的全息图照射参照光而产生的衍射光来再生记录数据(参考JP-A2004-226821(专利文件1)和Nikkei Electronics，2005年1月17日发表，106～114页(非专利文件1))。

全息图的记录/再生可采用多重记录，即，在稍微不同的区域上以局部重叠的方式记录全息图，其中，在这些区域上将在全息图记录介质上形成全息图。因此，可以增加在全息图记录介质上记录记录数据的能力(参考非专利文件1)。

建议使用光敏聚合物作为用于执行全息图记录/再生的全息图记录介质。然而，众所周知光敏聚合物具有对温度变化相当敏感的记录和再生特性。更具体地，由于光敏聚合物的热膨胀系数相当高，所以由于记录时光敏聚合物的温度与再生时光敏聚合物的温度之间的差而由温度变化引起了热膨胀或热收缩。于是，光敏聚合物上的衍射光栅可能旋转和/或衍射光栅之间的间隔以及折射率可能改变，这对记录/再生特性产生不好的影响。因此，推荐一种再生方法，在再生时考虑到记录和再生操作之间的温度变化(或差)而改变(或补偿)输入光的角度和波长。

发明内容

然而，例如，众所周知除由于热膨胀而引起的问题之外，当在记录操作期间温度改变时复用(multiplexing)的特性也同样会改变。特别地，由于记录灵敏度根据通过在全息图记录介质的记录层(包含光敏聚合物)上使用化学反应形成全息图的情况下的温度而大大不同，所以衍射效率在记录之后的再生时会显著不同。结果，在低温下，不可能获得充分的衍射效率。在高温下，衍射效率非常高，这消耗浪费的M数(稍后将进行描述)。因而，将不可能从将来记录的全息图中获得充分的衍射光。

复用需要更长时间周期。不考虑这点的记录不可能表现出良好的记录特性。换句话说，良好形式的全息图不可能形成在光敏聚合物上。因为这个原因，很难表现出良好的再生特性，即，即使通过补偿输入光的角度和波长，也难以从记录的全息图和再生记录数据中精确地获得高质量的衍射光。

因此，期望提供全息图记录装置和全息图记录方法，即使在记录时的温度不同的情况下，即，在高温和低温下或温度在记录操作期间改变而记录全息图的情况下，可以预先考虑通过在再生时向全息图记录介质照射参照光而获得的衍射光的衍射效率来以良好的形式记录全息图，并进一步提供适合于此的全息图记录介质。

根据本发明的一个实施例，提供了一种全息图记录装置，其通过在根据记录数据调制的信号光与来自与信号光相同的光源的参照光之间引起干涉来在全息图记录介质的记录层上记录全息图，该装置包括：信号光空间光调制部，显示用于产生信号光的信号光模式；参照光空间光调制部，显示用于产生参照光的参照光模式；控制部，控制将在信号光空间光调制部上显示的信号光模式的形式以及将在参照光空间光调制部上显示的参照光模式的形式，以及控制信号光和参照光的光能；以及温度传感器，感测全息图记录介质的温度，其中，控制部根据全息图记录介质在记录时的温度向全息图记录介质照射预定量的光能，使得向记录后的全息图照射参照光所引起的衍射光的衍射效率可等于预定值。

由于全息图记录装置包括温度传感器，所以可以感测全息图记录介质的温度。控制部可根据记录时全息图记录介质的温度向全息图记录介质照射预定量的光能，使得向记录后的全息图照射参照光所引起的衍射光的衍射效率可等于预定值。

根据本发明的另一个实施例，提供了一种全息图记录介质，其包括记录层，在其上通过在根据记录数据调制的信号光与来自与信号光相同的光源的参照光之间引起干涉来记录全息图，其中，预先在预定区域中记录关于与记录全息图时全息图记录介质的温度相对应的、用于获得等于预定值的衍射效率的记录能量的信息。